輝光放電質(zhì)譜技術(shù)交流會-10月12日下午4點-GDMS應(yīng)用網(wǎng)絡(luò)研討會
GDMS應(yīng)用網(wǎng)絡(luò)研討會
2020年10月12日16：00-18：00
您了解過輝光放電質(zhì)譜法嗎？
輝光放電質(zhì)譜法作為一種固體樣品的直接分析方法，被認(rèn)為是目前為止唯一的同時具有最廣泛的分析元素范圍和足夠靈敏度的元素分析方法，已成為固體材料多元素分析尤其是高純材料分析的強(qiáng)有力的工具，運用于金屬、合金、半導(dǎo)體等多種材料的分析。眾星聯(lián)恒將邀請專家為您帶來一場輝光放電質(zhì)譜技術(shù)應(yīng)用及輝光放電質(zhì)譜儀器的分享會。
2020年10月12日16：00-18：00眾星聯(lián)恒將邀請三位GDMS領(lǐng)域內(nèi)的專家為大家?guī)頃袠I(yè)分享：
報告一：中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所無機(jī)材料分析測試中心副主任—錢榮，報告題目：射頻輝光放電質(zhì)譜磁場增強(qiáng)技術(shù)的開發(fā)與應(yīng)用。
報告二：國標(biāo)（北京）檢驗認(rèn)證有限公司高級工程師—劉紅，報告題目：輝光放電質(zhì)譜法測定重?fù)骄w硅中替位碳含量。
報告三： MSI英國質(zhì)譜儀器公司創(chuàng)始人—Ekbal PETAL，報告題目：Developments of GD90。
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