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臺式XAFS、XES分析系統(tǒng)的發(fā)展解析
一X射線光譜學的發(fā)展現(xiàn)狀？x射線光譜學研究通常使用同步輻射源進行，因為同步輻射源能提供高亮度、相干、能量可調(diào)的單色X光。然而，基本同步輻射X射線發(fā)射光譜(XES)和X射線吸收光譜(XAS)的分析儀器，卻受到同步輻射的數(shù)量少和分析機時少的限制。使得很多的分析需求的科研工作者和工業(yè)客戶（Li電池公司，藥企）沒法申請到同步輻射機時。X射線吸收精細結(jié)構(gòu)光譜（XAFS）作為一種描繪局部結(jié)構(gòu)的方法，讓人捉摸不
2025-04-08
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單色微 X 射線熒光 (MμXRF)
微 X 射線熒光 (μXRF) 是一種元素分析技術(shù)，它允許使用單色射線檢測非常小的樣品區(qū)域（通常直徑為幾十至幾百微米）。X 射線光學晶體可捕獲來自大角度發(fā)散源的 X 射線，并將其重新引導至樣品表面上形成強聚焦光束，以此來增強 μXRF 應(yīng)用。單色 μXRF（或稱 MμXRF）采用了雙曲面彎晶光學晶體，這種晶體可將高強度微米級單色 X 射線束引導至樣品表面，用于加強元素分析。與 μXRF 技術(shù)相比，
2021-07-14 TU
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單色波長色散 X 射線熒光 (MWD XRF)
雙曲面彎晶可用于增強傳統(tǒng)的波長色散 XRF 儀器。這些基于衍射的光學晶體能夠使用低功率空氣冷卻式 X 射線管產(chǎn)生高強度單色 X 射線束。根據(jù)布拉格衍射定律，這些三維形狀的光學晶體選擇性地反射用于樣品激發(fā)的極窄 X 射線波長帶。單色波長色散 X 射線熒光 (MWD XRF) 分析儀使用兩個雙曲面彎晶光學晶體。典型儀器包括低功率 X 射線管、用于激發(fā)的點對點聚焦光學晶體、樣品池、用于熒光收集的第二聚焦
2021-07-14 TU
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XRF
什么是 XRFX 射線熒光 (XRF) 是一種強大的定量和定性分析工具，用于材料的元素分析。它非常適合測量薄膜厚度和成分，按固體和溶液的重量測定元素濃度，以及鑒定復(fù)雜樣品基質(zhì)中的特定元素和微量元素。XRF 分析廣泛應(yīng)用于半導體、電信、微電子、金屬加工和精煉、食品、醫(yī)藥、化妝品、農(nóng)業(yè)、塑料、橡膠、紡織品、燃料、化學品和環(huán)境分析等許多行業(yè)。該方法快速、準確、無損，幾乎無需樣品制備。XRF 如何工作當樣
2021-07-14
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![平行光束 X 射線衍射分析]()
平行光束 X 射線衍射分析
傳統(tǒng) XRD 的主要缺點在于，它通常基于具有高功率要求的龐大設(shè)備。此外，大多數(shù)傳統(tǒng)儀器使用仲聚焦布拉格-布倫塔諾幾何結(jié)構(gòu)，提供高分辨率和高強度光束分析等優(yōu)點，但需要應(yīng)對非常精確的校直要求并需要精心制備樣品。此外，這種幾何結(jié)構(gòu)要求從源到樣品的距離是恒定的，并且等于樣品到檢測儀的距離。因此產(chǎn)生的誤差常常導致相鑒定困難和量化不當。錯誤定位的樣品、部分透明的樣品或粗糙的樣品可能導致不可接受的樣品位移誤差。
2021-07-14 TU
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![Medipix 3和Timepix 3讀出芯片簡介]()
Medipix 3和Timepix 3讀出芯片簡介
Medipix 3和Timepix 3讀出芯片這兩種芯片都是CERN（歐洲核子研究委員會，Conseil Europeen pour la Recherche Nucleaire）主導的國際合作組織開發(fā)的光子計數(shù)和粒子跟蹤像素探測器系列讀出芯片。兩種芯片的側(cè)重點不同。Medipix 3是第3代Medipix芯片，設(shè)計用于連接分段式半導體傳感器。和前身Medipix2一樣，它像相機一樣，在電子快門打
2020-03-02
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![聚焦式X射線熒光]()
聚焦式X射線熒光
XRF 的應(yīng)用：共焦 X 射線熒光 打印共焦幾何結(jié)構(gòu)使用兩個多毛細管聚焦光學晶體來增強 XRF 元素分析應(yīng)用。激發(fā)光學晶體將小束 X 射線聚焦到樣品上。檢測光學晶體從樣品收集熒光 X 射線。具體而言，元素濃度是在由激發(fā)光學晶體的輸出焦斑與收集光學晶體的輸入焦斑的交點所確定的小探測范圍（“共焦范圍”）內(nèi)測量的。該方法可用于放射性物質(zhì)中元素的檢測和量化。多毛細管聚焦光學晶體用作空間濾波器，以
2020-03-02 TU
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![閾值等值化方法（Threshold Equalization Method） - S曲線法（S-curves）]()
閾值等值化方法（Threshold Equalization Method） - S曲線法（S-curves）
閥值等值化方法（Threshold Equalization Method） - S曲線法（S-curves）單個像素250個測試不同幅度測試脈沖的計數(shù)結(jié)果：紅色與噪聲對應(yīng)（模擬的）。由上圖可見，當全局閥值為0時，計數(shù)值飽和，完全是噪聲導致的。信號幅度一定時，計數(shù)曲線形如字母S，故稱為S曲線法。過程如下：1.設(shè)置測試脈沖幅度度、個數(shù)；2.進行閥值掃描；3.計算所有像素計數(shù)平均值4.調(diào)整計數(shù)值偏離平
2020-03-02
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![Timepix 3的時間游動（Timewalk ）和TOT線性（TOT Linearity）]()
Timepix 3的時間游動（Timewalk ）和TOT線性（TOT Linearity）
下圖是不同幅度信號的TOT和TOA測量結(jié)果上圖是測量脈沖最大為17ke-的TOA和TOT測量結(jié)果：大于5.5ke的脈沖，TOA抖動（Jitter）<0.5ns。Timewalk定義為電荷量比閥值大1ke時TOA的變化值。TOT在電荷量>=1.5ke時線性很好。Timepix 3芯片前端電路規(guī)格Amplitude linearity（幅度線性）：對Timepix 3芯片來說，能量信息是T
2020-03-02
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![X射線熒光分析概述]()
X射線熒光分析概述
X射線熒光分析概述（ED-XRF、WD-XRF、XES）目前有許多方法可以激發(fā)和探測X射線熒光。激發(fā)和分析的選擇取決于研究的科學和技術(shù)需求。目前常用的三種息息相關(guān)的X射線熒光（XRF）分析方法為：能量色散XRF（ED-XRF），波長色散XRF（WD-XRF）和 X射線發(fā)射光譜（XES）。前兩種技術(shù)是具有廣泛工業(yè)和研究應(yīng)用的主力方法， XES一直局限于同步加速器光源。目前用戶自搭建XES系統(tǒng)可以得到
2020-03-02
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![電荷包耦合（轉(zhuǎn)移）- 信號的讀出]()
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![Timepix 3和Timepix對比]()
Timepix 3和Timepix對比
Power pulsing：指的是有信號時工作，無信號時停止，目的是降低功耗。Timepix 3空穴TOT單調(diào)性（TOT monotonicity）紅色曲線是Timepix芯片。可見在200ke-~300kh+范圍內(nèi)TOT – 能量的線性很好。上述內(nèi)容由我司Jerry Huang 整理收集，僅用于知識的分享和共同學習，未經(jīng)過同意不得擅自轉(zhuǎn)載。
2020-03-02
