單色波長色散 X 射線熒光 (MWD XRF)
2021-07-14 18:43:15
TU
雙曲面彎晶可用于增強(qiáng)傳統(tǒng)的波長色散 XRF 儀器。這些基于衍射的光學(xué)晶體能夠使用低功率空氣冷卻式 X 射線管產(chǎn)生高強(qiáng)度單色 X 射線束。根據(jù)布拉格衍射定律，這些三維形狀的光學(xué)晶體選擇性地反射用于樣品激發(fā)的極窄 X 射線波長帶。
單色波長色散 X 射線熒光 (MWD XRF) 分析儀使用兩個(gè)雙曲面彎晶光學(xué)晶體。典型儀器包括低功率 X 射線管、用于激發(fā)的點(diǎn)對點(diǎn)聚焦光學(xué)晶體、樣品池、用于熒光收集的第二聚焦光學(xué)晶體和 X 射線檢測儀。第一個(gè)聚焦光學(xué)晶體捕獲來自源的窄帶寬 X 射線，并將該高強(qiáng)度單色光束聚焦到樣品上形成小光斑。單色初級束流激發(fā)樣品并發(fā)射次級特性熒光 X 射線。第二個(gè) DCC 收集光學(xué)晶體僅收集窄帶寬內(nèi)的相關(guān)特性 X 射線波長。
與傳統(tǒng) WDXRF 系統(tǒng)相比，此配置具有多個(gè)優(yōu)點(diǎn)。通過使用 X 射線源特性線的單色激發(fā)來改善信背比。其次，收集光學(xué)晶體的聚焦能力允許使用小面積 X 射線計(jì)數(shù)管檢測儀，這會(huì)降低檢測儀噪聲并增強(qiáng)可靠性。單色激發(fā)還可簡化定量和基質(zhì)效應(yīng)校正。該技術(shù)帶來了堅(jiān)固耐用且維護(hù)低的在線分析儀，這種分析儀具有顯著更低的檢測限值和更快的響應(yīng)時(shí)間。
使用雙曲面彎晶光學(xué)晶體的單色 WDXRF 對于相關(guān)的特定樣品元素具有非常高的靈敏度。該技術(shù)已成功應(yīng)用于石油產(chǎn)品中低硫含量的測定。
上述內(nèi)容來源于XOS官網(wǎng)