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Channel Cut 晶體單色器：開啟 X 射線高分辨之窗
01BACKGROUND高分辨X射線衍射分析的方法背景粉末晶體和不完美晶體通常包含許多晶格缺陷，例如位錯，它們的三維周期性往往是無序的。鑲嵌晶體模型將這種無序性描述為大量微小區(qū)域的集合，這些區(qū)域在周期性上沒有無序，但在取向上有輕微差異。在鑲嵌晶體中，X射線可以相互干涉的區(qū)域很小，入射的X射線束在大多數(shù)情況下可能只在晶體中散射一次。衍射的運(yùn)動學(xué)理論適用于這些情況，涉及許多無機(jī)和有機(jī)晶體，甚至非晶材料
2025-04-08 unistar
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王戈教授被任命為《IEEE醫(yī)學(xué)成像學(xué)報》主編
點擊藍(lán)字，關(guān)注我們2025年1月10日，倫斯勒理工學(xué)院（RPI）Clark-Crossan講座教授及生物醫(yī)學(xué)成像中心主任王戈教授 被正式任命為 《IEEE醫(yī)學(xué)成像學(xué)報》（IEEE Transactions on Medical Imaging）的主編。該期刊是醫(yī)學(xué)成像領(lǐng)域的旗艦期刊，每年收到近3,000篇投稿，并且在所有生物醫(yī)學(xué)工程期刊中被引用次數(shù)最多之一。王教授的任期為三年，并有可能續(xù)任第二個任
2025-01-20 unistar
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文獻(xiàn)速遞：邊緣照明X射線相襯微米CT中體各向異性的自監(jiān)督分辨率增強(qiáng)
2025新年伊始，來自荷蘭萊頓大學(xué)高等計算機(jī)科學(xué)研究所的Jiayang Shi以第一作者的身份在“ Tomography of Materials and Structures” 發(fā)表了一篇名為：“ Self-supervised resolution enhancement for anisotropic volumes in edge illumination X-ray phase cont
2025-01-14 unistar
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EUV多層膜元件的反射率表征：從微觀到宏觀的極致優(yōu)化
點擊藍(lán)字 關(guān)注我們WINTER多層膜反射率表征背景介紹EUV多層膜元件是EUV光學(xué)系統(tǒng)的核心光學(xué)元件，通過周期性膜層結(jié)構(gòu)設(shè)計可以在特定波長和入射角度條件下獲得盡可能高的反射率。如圖1是一片由德國optiX fab.制造的周期性Mo/Si多層膜反射鏡在5°入射角條件下的反射率測試結(jié)果，對中心13.5nm波長的實測反射率可以達(dá)到65%以上，非常接近于理論光學(xué)極限。圖1. Mo/Si多層膜反射鏡在PTB
2025-04-07 unistar
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![The Devil is in the Details-多功能X射線光束測試卡的結(jié)構(gòu)及使用方法]()
The Devil is in the Details-多功能X射線光束測試卡的結(jié)構(gòu)及使用方法
點擊藍(lán)字，關(guān)注我們引言在探索微觀世界的奧秘中，X射線以其獨特的穿透力成為了科學(xué)家手中不可或缺的“探針”。在之前的文章我們介紹了各種調(diào)制X射線強(qiáng)度、相位及方向的方式，如下：不同的X射線光學(xué)組件，由于采用的作用機(jī)理不同，所以適用于不同的應(yīng)用場景。在過去我們著重介紹了在衍射的X光聚焦元件i和基于折射原理的X光聚焦元件ii。i.詳見文章: <X射線多層膜在靜態(tài)和超快X射線衍射中的應(yīng)用>ii.詳
2025-01-09 unistar
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![晶體生長質(zhì)量快速測試?yán)鳎篨射線勞厄(Laue)實時晶體定向系統(tǒng)]()
晶體生長質(zhì)量快速測試?yán)鳎篨射線勞厄(Laue)實時晶體定向系統(tǒng)
點擊藍(lán)字 關(guān)注我們SUMMERPart 1.引言1895年，德國物理學(xué)家威廉·倫琴發(fā)現(xiàn)了X射線，揭開了科學(xué)研究的新篇章。隨后在1912年，同來自德國的馬克斯·馮·勞厄（Max von Laue）使用X射線照射晶體，首次觀察到衍射圖樣，不僅驗證了X射線是電磁波，還揭示了晶體內(nèi)部的周期性結(jié)構(gòu)。這一發(fā)現(xiàn)為X射線晶體學(xué)的發(fā)展奠定了基礎(chǔ)，幫助科學(xué)家們打開了探索物質(zhì)微觀世界的大門，勞厄也因這一杰出的貢獻(xiàn)于19
2025-01-09 unistar
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![基于PIN二極管的EUV / X射線探測器]()
基于PIN二極管的EUV / X射線探測器
點擊藍(lán)字 關(guān)注我們Rigaku xPIN計量探測器是一種基于PIN二極管的EUV / X射線探測器，具有緊湊靈活的設(shè)計，是實驗室光源強(qiáng)度監(jiān)測和光學(xué)對準(zhǔn)的理想工具。適用于從實驗室設(shè)備的校準(zhǔn)和測試到光源強(qiáng)度的長期精確監(jiān)測等各種應(yīng)用，是任何EUV/X射線實驗室不可缺少的理想專業(yè)工具。如圖1所示，該探測器可用作手持式監(jiān)視器或固定在光學(xué)臺上，探測器有自己的長壽命內(nèi)部電池，充電或供電操作可以通過標(biāo)準(zhǔn)USB電纜
2025-01-09 unistar
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![使用抗輻射聚合物制造的X射線折射光學(xué)元件（CRL）]()
使用抗輻射聚合物制造的X射線折射光學(xué)元件（CRL）
Author：Josephine Gutekunst1, Joachim Schulz12, Arndt Last21Microworks GmbH, Karlsruhe, Germany2 KIT / IMT, Karlsruhe, Germany一RefractionX射線折射 — 一項特殊的技術(shù)挑戰(zhàn)與可見光不同，X 射線光子的短波長或高能量會導(dǎo)致與原子核附近的電子相互作用，而不是與原子之間的
2024-11-18 unistar
