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臺式XAFS、XES分析系統(tǒng)的發(fā)展解析
一X射線光譜學(xué)的發(fā)展現(xiàn)狀？x射線光譜學(xué)研究通常使用同步輻射源進(jìn)行，因為同步輻射源能提供高亮度、相干、能量可調(diào)的單色X光。然而，基本同步輻射X射線發(fā)射光譜(XES)和X射線吸收光譜(XAS)的分析儀器，卻受到同步輻射的數(shù)量少和分析機(jī)時少的限制。使得很多的分析需求的科研工作者和工業(yè)客戶（Li電池公司，藥企）沒法申請到同步輻射機(jī)時。X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)光譜（XAFS）作為一種描繪局部結(jié)構(gòu)的方法，讓人捉摸不
2025-04-08
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單色微 X 射線熒光 (MμXRF)
微 X 射線熒光 (μXRF) 是一種元素分析技術(shù)，它允許使用單色射線檢測非常小的樣品區(qū)域（通常直徑為幾十至幾百微米）。X 射線光學(xué)晶體可捕獲來自大角度發(fā)散源的 X 射線，并將其重新引導(dǎo)至樣品表面上形成強(qiáng)聚焦光束，以此來增強(qiáng) μXRF 應(yīng)用。單色 μXRF（或稱 MμXRF）采用了雙曲面彎晶光學(xué)晶體，這種晶體可將高強(qiáng)度微米級單色 X 射線束引導(dǎo)至樣品表面，用于加強(qiáng)元素分析。與 μXRF 技術(shù)相比，
2021-07-14 TU
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單色波長色散 X 射線熒光 (MWD XRF)
雙曲面彎晶可用于增強(qiáng)傳統(tǒng)的波長色散 XRF 儀器。這些基于衍射的光學(xué)晶體能夠使用低功率空氣冷卻式 X 射線管產(chǎn)生高強(qiáng)度單色 X 射線束。根據(jù)布拉格衍射定律，這些三維形狀的光學(xué)晶體選擇性地反射用于樣品激發(fā)的極窄 X 射線波長帶。單色波長色散 X 射線熒光 (MWD XRF) 分析儀使用兩個雙曲面彎晶光學(xué)晶體。典型儀器包括低功率 X 射線管、用于激發(fā)的點(diǎn)對點(diǎn)聚焦光學(xué)晶體、樣品池、用于熒光收集的第二聚焦
2021-07-14 TU
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XRF
什么是 XRFX 射線熒光 (XRF) 是一種強(qiáng)大的定量和定性分析工具，用于材料的元素分析。它非常適合測量薄膜厚度和成分，按固體和溶液的重量測定元素濃度，以及鑒定復(fù)雜樣品基質(zhì)中的特定元素和微量元素。XRF 分析廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、電信、微電子、金屬加工和精煉、食品、醫(yī)藥、化妝品、農(nóng)業(yè)、塑料、橡膠、紡織品、燃料、化學(xué)品和環(huán)境分析等許多行業(yè)。該方法快速、準(zhǔn)確、無損，幾乎無需樣品制備。XRF 如何工作當(dāng)樣
2021-07-14
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![平行光束 X 射線衍射分析]()
平行光束 X 射線衍射分析
傳統(tǒng) XRD 的主要缺點(diǎn)在于，它通常基于具有高功率要求的龐大設(shè)備。此外，大多數(shù)傳統(tǒng)儀器使用仲聚焦布拉格-布倫塔諾幾何結(jié)構(gòu)，提供高分辨率和高強(qiáng)度光束分析等優(yōu)點(diǎn)，但需要應(yīng)對非常精確的校直要求并需要精心制備樣品。此外，這種幾何結(jié)構(gòu)要求從源到樣品的距離是恒定的，并且等于樣品到檢測儀的距離。因此產(chǎn)生的誤差常常導(dǎo)致相鑒定困難和量化不當(dāng)。錯誤定位的樣品、部分透明的樣品或粗糙的樣品可能導(dǎo)致不可接受的樣品位移誤差。
2021-07-14 TU
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![聚焦式X射線熒光]()
聚焦式X射線熒光
XRF 的應(yīng)用：共焦 X 射線熒光 打印共焦幾何結(jié)構(gòu)使用兩個多毛細(xì)管聚焦光學(xué)晶體來增強(qiáng) XRF 元素分析應(yīng)用。激發(fā)光學(xué)晶體將小束 X 射線聚焦到樣品上。檢測光學(xué)晶體從樣品收集熒光 X 射線。具體而言，元素濃度是在由激發(fā)光學(xué)晶體的輸出焦斑與收集光學(xué)晶體的輸入焦斑的交點(diǎn)所確定的小探測范圍（“共焦范圍”）內(nèi)測量的。該方法可用于放射性物質(zhì)中元素的檢測和量化。多毛細(xì)管聚焦光學(xué)晶體用作空間濾波器，以
2020-03-02 TU
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![X射線熒光分析概述]()
X射線熒光分析概述
X射線熒光分析概述（ED-XRF、WD-XRF、XES）目前有許多方法可以激發(fā)和探測X射線熒光。激發(fā)和分析的選擇取決于研究的科學(xué)和技術(shù)需求。目前常用的三種息息相關(guān)的X射線熒光（XRF）分析方法為：能量色散XRF（ED-XRF），波長色散XRF（WD-XRF）和 X射線發(fā)射光譜（XES）。前兩種技術(shù)是具有廣泛工業(yè)和研究應(yīng)用的主力方法， XES一直局限于同步加速器光源。目前用戶自搭建XES系統(tǒng)可以得到
2020-03-02
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![高精度X射線熒光]()
高精度X射線熒光
高清 X 射線熒光 (HDXRF) 的優(yōu)點(diǎn)?打印?XOS 將HDXRF技術(shù)應(yīng)用于玩具和消費(fèi)品中的管制元素的快速檢測高清 X 射線熒光 (HDXRF) 是新一代管制元素檢測技術(shù)，可幫助制造商和監(jiān)管機(jī)構(gòu)解決這一重要的公共健康問題。HDXRF 將快速檢測和精確度的優(yōu)勢進(jìn)行了前所未有的結(jié)合。HDXRF 的優(yōu)點(diǎn)快速得出結(jié)果更快的測量速度使其能夠檢查更多的玩具；比傳統(tǒng)分析技術(shù)快 100 多
2019-08-23
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![微 X 射線熒光 (μXRF)]()
微 X 射線熒光 (μXRF)
微 X 射線熒光 (μXRF) 打印微 X 射線熒光 (μXRF) 是一種元素分析技術(shù)，它允許檢測非常小的樣品區(qū)域。與傳統(tǒng)的 XRF 儀器一樣，微 X 射線熒光通過使用直接 X 射線激發(fā)來誘導(dǎo)來自樣品的特性 X 射線熒光發(fā)射，以用于元素分析。與傳統(tǒng) XRF 不同（其典型空間分辨率的直徑范圍從幾百微米到幾毫米），μXRF 使用 X 射線光學(xué)晶體來限制激發(fā)光束尺寸或?qū)⒓ぐl(fā)光束聚焦到樣品表面上
2019-05-09
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![波長色散 X 射線熒光 (WDXRF)]()
波長色散 X 射線熒光 (WDXRF)
波長色散 X 射線熒光 (WDXRF)波長色散 X 射線熒光 (WDXRF) 是用于元素分析應(yīng)用的兩種通用型 X 射線熒光儀器之一。在 WDXRF 光譜儀中，樣品中的所有元素同時被激發(fā)。樣品發(fā)射的特性輻射的不同能量被分析晶體或單色儀衍射到不同方向（類似于棱鏡將不同顏色的可見光分散到不同方向）。通過將檢測儀置于一定角度，可以測量具有一定波長的 X 射線的強(qiáng)度。連續(xù)光譜儀使用測角儀上的移動探測器使其移
2019-05-09
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![能量色散 X 射線熒光 (ED XRF)]()
能量色散 X 射線熒光 (ED XRF)
能量色散 X 射線熒光 (ED XRF)?打印能量色散 X 射線熒光 (EDXRF) 是用于元素分析應(yīng)用的兩種通用型 X 射線熒光技術(shù)之一。在 EDXRF 光譜儀中，樣品中的所有元素都被同時激發(fā)，而能量色散檢測儀與多通道分析儀相結(jié)合，用于同時收集從樣品發(fā)射的熒光輻射，然后區(qū)分來自各個樣品元素的特性輻射的不同能量。EDXRF 系統(tǒng)的分辨率取決于檢測儀，通常范圍為 150 eV - 600
2019-05-09
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![XRD]()
XRD
X射線衍射 (XRD) 依賴于 X 射線的雙波/顆粒性質(zhì)來獲得關(guān)于晶體材料結(jié)構(gòu)的信息。該技術(shù)的主要用途是根據(jù)其衍射圖對化合物進(jìn)行鑒定和特性描述。當(dāng)單色 X 射線的入射束與目標(biāo)材料相互作用時，發(fā)生的顯性效應(yīng)是，這些 X 射線從目標(biāo)材料內(nèi)的原子進(jìn)行散射。在具有規(guī)則結(jié)構(gòu)（即晶體）的材料中，散射的 X 射線會經(jīng)歷相長干涉和相消干涉。這就是衍射的過程。晶體對 X 射線的衍射遵循布拉格定律，nλ = 2dsi
2019-05-09
