波長色散 X 射線熒光 (WDXRF)

波長色散 X 射線熒光 (WDXRF) 是用于元素分析應(yīng)用的兩種通用型 X 射線熒光儀器之一。在 WDXRF 光譜儀中，樣品中的所有元素同時被激發(fā)。樣品發(fā)射的特性輻射的不同能量被分析晶體或單色儀衍射到不同方向（類似于棱鏡將不同顏色的可見光分散到不同方向）。通過將檢測儀置于一定角度，可以測量具有一定波長的 X 射線的強度。連續(xù)光譜儀使用測角儀上的移動探測器使其移動通過一定的角度范圍，以測量許多不同波長的強度。同步光譜儀配有一組固定的檢測系統(tǒng)，其中每個系統(tǒng)測量特定元素的輻射。WDXRF 系統(tǒng)的主要優(yōu)點是高分辨率（通常為 5 - 20 eV）和最小光譜重疊。

X 射線光學(xué)晶體可用于增強 WDXRF 儀器。對于常規(guī) XRF 儀器，樣品表面典型焦斑尺寸的直徑范圍從幾百微米到幾毫米不等。多毛細(xì)管聚焦光學(xué)晶體從發(fā)散 X 射線源收集 X 射線，并將它們引導(dǎo)至樣品表面上形成直徑小到幾十微米的小聚焦光束。由此增加的強度以小焦斑傳遞到樣品，可增強用于小特性分析的空間分辨率和用于微 WDXRF 應(yīng)用的微量元素測量性能。多毛細(xì)管準(zhǔn)直光學(xué)晶體允許從樣品表面上的小光斑有效地收集特性熒光 X 射線，并作為平行光束重新引導(dǎo)至分析平面晶體，以進行能量色散。

相反，可以使用雙曲面彎晶單色儀來收集從樣品發(fā)射的特定熒光，并將其引導(dǎo)至檢測儀，而不是使用多毛細(xì)管準(zhǔn)直光學(xué)晶體和平面晶體來進行熒光收集和色散。

此外，可使用兩個雙曲面彎晶光學(xué)晶體進行單色 WDXRF，這種技術(shù)對于相關(guān)的特定樣品元素具有非常高的靈敏度。該技術(shù)已成功地應(yīng)用于 XOS SINDIE 分析儀，用以測定石油中的低硫含量。