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基于PIN二極管的EUV / X射線探測(cè)器

2025-01-09 11:19:08 unistar

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北京眾星聯(lián)恒科技有限公司

Rigaku xPIN計(jì)量探測(cè)器是一種基于PIN二極管的EUV / X射線探測(cè)器,具有緊湊靈活的設(shè)計(jì),是實(shí)驗(yàn)室光源強(qiáng)度監(jiān)測(cè)光學(xué)對(duì)準(zhǔn)的理想工具。適用于從實(shí)驗(yàn)室設(shè)備的校準(zhǔn)和測(cè)試到光源強(qiáng)度的長(zhǎng)期精確監(jiān)測(cè)等各種應(yīng)用,是任何EUV/X射線實(shí)驗(yàn)室不可缺少的理想專業(yè)工具。

如圖1所示,該探測(cè)器可用作手持式監(jiān)視器或固定在光學(xué)臺(tái)上,探測(cè)器有自己的長(zhǎng)壽命內(nèi)部電池,充電或供電操作可以通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)USB電纜從任何USB設(shè)備;當(dāng)連接到PC時(shí),USB電纜也用于數(shù)據(jù)傳輸。多種類型的二極管可選使得Rigaku xPIN能夠用于廣泛的能量范圍,涵蓋EUV到x射線輻射,如圖2所示。

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圖1.Rigaku xPIN讀出單元(左圖/中圖),二極管探頭(右圖)

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圖2.Rigaku xPIN裝載的標(biāo)準(zhǔn)二極管類型,其他類型可定制

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   EUV版本 ▼  

EUV版本的Rigaku xPIN裝載了OPTO DIODE生產(chǎn)的AXUVSXUV系列二極管,從NIR到軟X射線波段有非常高的量子效率和響應(yīng)度,如圖3所示。AXUV和SXUV系列與傳統(tǒng)的二極管相比,表現(xiàn)出非常低的暗噪聲,優(yōu)異的量子效率、穩(wěn)定性、空間均勻性,大動(dòng)態(tài)范圍,以及超高真空兼容。

由于這些獨(dú)特的性能,它們已經(jīng)成功應(yīng)用于SOHO、GOES等太空望遠(yuǎn)鏡,勞倫斯利弗莫爾國(guó)家實(shí)驗(yàn)室的環(huán)形加速器實(shí)驗(yàn),世界各地的同步輻射和聚變研究實(shí)驗(yàn)室。同樣也被廣泛用于EUV光軟x射線顯微鏡、XUV光譜等離子體診斷研究。AXUV表面帶有6-8 nm的SiO2鈍化層,對(duì)于UV / EUV的響應(yīng)度較高,但SiO2鈍化層在接受高達(dá)幾個(gè)Grad輻照劑量后,SiO2出現(xiàn)輻照缺陷,會(huì)發(fā)生表面復(fù)合現(xiàn)象,導(dǎo)致響應(yīng)度略微下降。而SXUV系列則是專為同步輻射和準(zhǔn)分子激光器等高通量水平的應(yīng)用檢測(cè)而開(kāi)發(fā)的,表面采用金屬硅化物,輻照硬度更強(qiáng),更適合脈沖輻射檢測(cè),尤其是在脈沖光能量密度高于0.1μJ/cm2時(shí),但在UV / EUV附近的響應(yīng)度會(huì)低于AXUV系列。

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圖3. AXUV100GDS響應(yīng)度曲線(上),SXUV100DS響應(yīng)度曲線(下)

Rigaku xPIN的一般在光伏模式下工作,具有極低的暗電流良好的溫度穩(wěn)定性,也可以在光導(dǎo)模式下工作,拓展量程從200nA到20μA。讀出單元采用科學(xué)級(jí)數(shù)字直流nA表,分辨率達(dá)1pA。并且集成sigma-delta ADC,能以每秒10次的采樣頻率輸出和顯示光電流。Rigaku xPIN還可以添加內(nèi)嵌的脈沖整形器來(lái)實(shí)現(xiàn)重頻大于100Hz的脈沖光測(cè)量,可以通過(guò)測(cè)量到的平均光電流、響應(yīng)度和已知的脈沖重頻,反推到單發(fā)脈沖的功率。

在計(jì)量實(shí)驗(yàn)中,通常需要標(biāo)定二極管的響應(yīng)度。Rigaku xPIN能為有度量需求的客戶提供PTB同步輻射的標(biāo)定服務(wù),如圖4所示,為搭載SXUV100DS的Rigaku xPIN在PTB的13.5nm光下標(biāo)定的響應(yīng)度,并對(duì)整個(gè)探測(cè)靶面進(jìn)行mapping。

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圖4. 經(jīng)PTB標(biāo)定的SXUV100DS在13.5nm的響應(yīng)度

當(dāng)特定光子能量下的響應(yīng)度被精確標(biāo)定后,輸入該能量的單能光子,可以得到度量后的平均輸入功率和光子數(shù)。在輸入二極管類型、指定能量、響應(yīng)度、光源重頻后,Rigaku xPIN的操作軟件可以實(shí)時(shí)顯示并記錄平均光電流、平均光通量或單發(fā)光通量,如圖5所示。

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圖5. Rigaku xPIN操作軟件便于用戶計(jì)算光通量

此外,靈活的定制能力為用戶提供更便利的安裝方式。Rigaku xPIN可在二極管前端集成可更換的濾片,如200nm的Zr濾片等,當(dāng)濾片損壞或污染,可以快速更換。真空法蘭可搭配CF或KF法蘭,利用真空內(nèi)線纜連接二極管,也可以將二極管固定在真空法蘭上,如圖6所示。

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圖6. 二極管通過(guò)KF40法蘭和真空線纜連接(左圖),二極管固定在真空法蘭上(右圖)

   X射線版本 ▼  

裝載XR50-OS或XR100-OS二極管的Rigaku xPIN可用于實(shí)驗(yàn)室X射線光源的強(qiáng)度監(jiān)測(cè)和光學(xué)對(duì)準(zhǔn),包括常規(guī)的Cu靶、Mo靶X射線光管或液態(tài)金屬流光源。XR50-OS二極管具有300μm硅傳感器厚度,在6~8keV附近有最高的響應(yīng)度,大約為0.25A/W。柏林工業(yè)大學(xué)的研究人員在微區(qū)XRF實(shí)驗(yàn)中,使用了Rigaku xPIN進(jìn)行光學(xué)對(duì)準(zhǔn)。如圖7所示,在液態(tài)金屬流光源前放置一個(gè)聚焦型多毛細(xì)管透鏡,在激發(fā)端90度處放置SDD探測(cè)器,在激發(fā)端和探測(cè)端45度的位置放置樣品。

將Rigaku xPIN放置在多毛細(xì)透鏡后面,通過(guò)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)Rigaku xPIN上的光電流變化,可實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)光學(xué)對(duì)準(zhǔn)以及測(cè)量過(guò)程中的對(duì)準(zhǔn)控制。

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圖7.Rigaku xPIN用于μXRF的光學(xué)對(duì)準(zhǔn)

德隆大學(xué)的研究人員在X射線顯微CT實(shí)驗(yàn)中,使用了Rigaku xPIN進(jìn)行光源強(qiáng)度測(cè)量以及長(zhǎng)期穩(wěn)定性表征。如圖8所示,右側(cè)為微焦點(diǎn)Cu靶光源,中間為樣品臺(tái),左側(cè)為透鏡耦合相機(jī)。在實(shí)驗(yàn)開(kāi)始前,利用Rigaku xPIN在光源前42mm處測(cè)量光源強(qiáng)度,經(jīng)過(guò)換算光強(qiáng)大約在4^10ph/s,在64小時(shí)連續(xù)監(jiān)測(cè)過(guò)程中,光通量穩(wěn)定,僅有很小的波動(dòng)。

此外,最近ELI Beamline的研究人員在新投入使用的1 kHz超快激光驅(qū)動(dòng)Cu靶等離子體X射線源中,使用了Rigaku xPIN進(jìn)行單發(fā)X射線通量的測(cè)量。經(jīng)過(guò)簡(jiǎn)單改造,即增加50V高偏壓和高頻示波器后,該二極管能以1kHz的重復(fù)頻率捕獲每一脈沖的X射線強(qiáng)度信息,為實(shí)驗(yàn)提供有效的參考數(shù)據(jù)。

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圖8.Rigaku xPIN用于顯微CT中光源的強(qiáng)度和穩(wěn)定性監(jiān)測(cè)



關(guān)于Rigaku:

Rigaku Innovative Technologies Europe s.r.o. (下簡(jiǎn)稱“RITE”)于2008年在捷克首都布拉格成立 ,配有多個(gè)專業(yè)的X射線實(shí)驗(yàn)室,RITE前身卻在業(yè)內(nèi)有著超過(guò)50年的發(fā)展歷史。團(tuán)隊(duì)創(chuàng)始成員來(lái)自捷克科學(xué)院捷克理工大學(xué),參與了多項(xiàng)(原)捷克斯洛伐克空間探測(cè)項(xiàng)目,是目前捷克X射線光學(xué)領(lǐng)域的領(lǐng)先研究學(xué)者。憑借自身在X射線、極紫外光學(xué)領(lǐng)域多年的積累,RITE秉承著開(kāi)放合作的理念,向全球的工業(yè)客戶、實(shí)驗(yàn)室科研用戶提供標(biāo)準(zhǔn)或定制型 EUV/X-RAY光學(xué)鏡片和高分辨X射線相機(jī)等。

北京眾星聯(lián)恒科技有限公司作為捷克RITE公司中國(guó)區(qū)授權(quán)總代理商,為中國(guó)客戶提供RITE所有產(chǎn)品的售前咨詢,銷售及售后服務(wù)。我司始終致力于為廣大科研用戶提供專業(yè)的EUV、X射線產(chǎn)品及解決方案。如果您有任何問(wèn)題,歡迎聯(lián)系我們進(jìn)行交流和探討。

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參考文獻(xiàn):

1. Bauer L J, Gnewkow R, F?rste F, et al. Increasing the sensitivity of micro X-ray fluorescence spectroscopy through an optimized adaptation of polycapillary lenses to a liquid metal jet source. Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 2021, 36(11): 2519-2527.

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3. Pulnova Y, Parkman T, Angelov B, et al. Compact laser-driven plasma X-ray source for time-resolved diffraction, spectroscopy, and imaging experiments at ELI Beamlines. arXiv preprint arXiv:2410.03313, 2024.







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