ESRF網(wǎng)絡(luò)研討會-12月14日：ESRF的X射線布拉格衍射成像(“X射線形貌術(shù)”)
2021-12-13 09:53:11
點(diǎn)擊藍(lán)字 // 關(guān)注我們
X射線布拉格衍射成像
X射線布拉格衍射成像(又稱“X射線形貌術(shù)”)是一種獨(dú)特的表征工具，廣泛用于研究各類高質(zhì)量晶體材料的結(jié)構(gòu)性能以及晶體質(zhì)量本身的質(zhì)量和缺陷。
晶體材料的缺陷會對基于該晶體的設(shè)備性能有非常大的影響。因此，X射線布拉格衍射成像可很好地應(yīng)用于包括半導(dǎo)體(如Si、Ge、SiC、GaN)和光學(xué)晶體(如石英、藍(lán)寶石、KTP、KTA和LBO)等材料。
ESRF擁有世界上獨(dú)一無二的同步輻射x射線形貌實(shí)驗(yàn)裝置，客戶群體來自半導(dǎo)體、電力電子、光電子和MEMs等行業(yè)。
X射線布拉格衍射成像的一個(gè)重要特點(diǎn)是，它在分析大視場（厘米級）下具有對缺陷的高空間分辨率和高靈敏度成像，如位錯(cuò)、夾雜、籽晶生長和層狀生長等。通過“搖擺曲線成像”，還可以更好地描述缺陷周圍的應(yīng)變環(huán)境，從而更好地理解材料性能。
在本次網(wǎng)絡(luò)研討會中，您將了解到成像技術(shù)的物理基礎(chǔ)，同步輻射形貌術(shù)的優(yōu)勢及一些實(shí)例說明。
研討會時(shí)間：2021年12月14日 18:00（北京時(shí)間）
點(diǎn)擊鏈接注冊參會：https://esrf.zoom.us/webinar/register/WN_u1nC0ZDXTh6tcn_XzTbfDA
掃碼關(guān)注訂閱更多行業(yè)資訊
北京眾星聯(lián)恒科技有限公司
www.pbangbang.cn
010-86467571