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激光直寫解鎖大面積菲涅爾波帶片的制備工藝及應(yīng)用

2024-03-22 15:09:51 unistar

菲涅爾波帶片(FZP)是由交替變化的透明和不透明的同心圓環(huán)組成的非周期圓形光柵器件,可用于X射線的聚焦和成像。與毛細管透鏡聚焦原理不同,菲涅爾波帶片是通過器件本身對X射線的衍射特性實現(xiàn)對光的收集,采用垂直入射的方式顯著增大了X射線收集的角度,繼而最大化光聚焦的效率。同時,基于FZP的X射線成像系統(tǒng)空間分辨率完全依賴于波帶片最外環(huán)的寬度,因此該技術(shù)的一個核心優(yōu)勢還在于系統(tǒng)的擴展性非常強,可以在不犧牲分辨率的前提條件下,通過改變波帶片的環(huán)數(shù),調(diào)節(jié)成像的焦距和視場[1-4]。


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圖1菲涅爾波帶片結(jié)構(gòu)和工作原理(?r為最外環(huán)寬度,f為焦距,D為波帶片直徑)


作為成像系統(tǒng)的物鏡,F(xiàn)ZP能夠獲得的最大成像視場和分辨率同等重要,尤其針對于大尺寸樣品體系的成像應(yīng)用,成像系統(tǒng)單次曝光能夠?qū)崿F(xiàn)的最大成像視場決定了成像的效率。一般情況下,系統(tǒng)的最大成像視場為波帶片直徑的一半[2],因此對大面積FZP的定制加工及小批量高效率生產(chǎn)需求日益增加。

得益于在微納、精密加工方面多年的技術(shù)積累,瑞士XRnanotech公司目前可向廣大科研用戶提供各種規(guī)格的FZP產(chǎn)品及定制服務(wù)。XRnanotech公司基于電子束直寫和Ir-線倍增技術(shù)可加工最外環(huán)寬度<10 nm的FZP,同時利用激光直寫方式制備的大面積FZP直徑可達5mm,其生產(chǎn)的FZP產(chǎn)品已經(jīng)成為X射線顯微、X射線微束聚焦和成像的理想器件選擇。

瑞士XRnanotech公司

FZP設(shè)計加工案例及詳細規(guī)格參數(shù)


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激光直寫技術(shù)加工大面積FZP的工藝及其應(yīng)用


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圖2激光直寫制備的鍍金的菲涅爾波帶片


激光直寫是利用激光束對材料進行局部加熱或光化學反應(yīng),從而在材料表面形成所需的結(jié)構(gòu)或圖案,整個過程通過控制激光束的強度、聚焦和移動來實現(xiàn)對材料的精確加工。與電子束直寫相比,盡管激光直寫技術(shù)受衍射極限及鄰近效應(yīng)限制,很難加工亞微米結(jié)構(gòu)尺寸的圖案,但其加工深度高、直寫速度快,適用于大面積的微米尺度結(jié)構(gòu)的高效加工制備。

利用激光直寫技術(shù)制備菲涅爾波帶片的基本過程如圖3所示包括基底膜固定、涂光刻膠、激光直寫(曝光)、顯影和電鍍五個步驟。其中激光直寫是關(guān)鍵的步驟。為了確保直寫加工的精度,需要時刻保持激光束的聚焦和位置的對準。因此,在曝光過程中往往還采用了另一束紅外激光束對加工圖案區(qū)域的透過率進行探測,以實現(xiàn)加工精度的控制。

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圖3激光直寫菲涅爾波帶片的工藝步驟


激光直寫大面積FZP在全場X射線熒光成像中的應(yīng)用


相較于針孔和毛細管方案的X射線熒光成像,編碼成像技術(shù)打破了從場景到圖像一一對應(yīng)的采樣形式,利用具有特定圖案的掩模對入射光進行調(diào)制,將成像重心從硬件轉(zhuǎn)移到算法上,大幅提高了光的收集效率,降低了成像的時間。菲涅爾波帶片作為一類重要的編碼掩模,其最外環(huán)的寬度和面積決定了成像系統(tǒng)的分辨率和視場大小。

目前,哥廷根大學Jakob Soltau博士提出了一種基于FZP編碼成像的算法和技術(shù),利用大面積的單片F(xiàn)ZP實現(xiàn)了1mm2大視場和35μm分辨率的全場X射線熒光成像[4]。實驗的光路幾何如圖4所示,樣品經(jīng)X射線單色激發(fā)產(chǎn)生的熒光被大面積FZP收集,并在2D成像探測器上形成包含樣品熒光信息的編碼圖像。其中,以匹配大面積的成像視場,采用了XRnanotech公司基于激光直寫加工制備的5mm直徑的FZP作編碼掩模。

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圖4 (a)全場X射線熒光成像實驗光路示意圖;(b)實驗光路照片;(c)鍍金FZP的顯微圖像;(d)原始樣品結(jié)構(gòu)圖片;(e)2D探測器成像的編碼圖像及(f)經(jīng)重構(gòu)算法處理后獲得的樣品熒光信息圖像[4]


和傳統(tǒng)針孔成像方法相比,基于FZP編碼成像方法的優(yōu)勢不僅僅在于具有更高的光收集效率,可以大大縮減成像的時間,同時保證了高的成像分辨率。圖5對比了基于針孔成像和FZP編碼成像的實驗重構(gòu)結(jié)果,可以看出,同樣的曝光時間,編碼成像具有更低的噪聲和更高的成像襯度。同時,理論上而言,對于40μm的針孔成像系統(tǒng),受針孔尺寸和幾何放大倍率的限制,系統(tǒng)的成像分辨率不超過56μm(?≥d(1+1/M))。而對于5mm的FZP編碼成像系統(tǒng),成像分辨率主要與FZP最外環(huán)寬度和放大倍率有關(guān),因此系統(tǒng)可實現(xiàn)的極限分辨率可達18.7μm(?≥1.22?r/M)。而對于更高分辨率的成像需求,可設(shè)計和加工更小最外環(huán)寬度的FZP。

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圖5 (a)、(b)基于40μm針孔熒光成像和(c)、(d)基于FZP編碼熒光成像的重構(gòu)結(jié)果對比。其中,樣品由Ti和Fe元素組成的微結(jié)構(gòu),線寬100μm,結(jié)構(gòu)高度550nm,曝光時間2h4]


瑞士XRnanotech


瑞士XRnanotech專注于研究納米結(jié)構(gòu),開發(fā)和制造最具創(chuàng)新性的X射線光學器件。XRnanotech 制造的菲涅耳波帶片分辨率可低至<10nm,憑借獨特的 Ir-線倍增技術(shù),可以獲得精確到 5nm 的 X 射線束聚焦,這使得 XRnanotech 成為 X 射線透鏡世界紀錄保持者。

北京眾星聯(lián)恒科技有限公司作為瑞士XRnanotech公司在中國區(qū)的授權(quán)總代理商,為中國客戶提供所有產(chǎn)品的售前咨詢,銷售及售后服務(wù)。我司始終致力于為廣大科研用戶提供專業(yè)的EUV、X射線產(chǎn)品及解決方案。如果您有任何問題,歡迎聯(lián)系我們進行交流和探討。

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參考文獻

[1] Park, J. Y., Kim, Y., Lee, S., & Lim, J., Zernike phase‐contrast full‐field transmission x‐ray nanotomography for 400 micrometre‐sized samples. J. Synchrotron Radiat. 27, 1696–1702 (2020).

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