新的X射線世界紀(jì)錄:以4nm的分辨率觀察微芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)

該樣本是從商用計(jì)算機(jī)芯片中提取的,由圖中的金色針頭支撐。該樣本直徑不到 5微米(比人類(lèi)頭發(fā)的寬度小 20 倍左右),使用聚焦離子束從芯片上切下并放置在針頭上。
? Paul Scherrer Institute PSI/Mahir Dzambegovic
自 2010 年以來(lái),PSI 大分子和生物成像實(shí)驗(yàn)室的科學(xué)家一直致力于開(kāi)發(fā)顯微成像方法,目的是生成納米級(jí)的三維圖像。在目前的研究中,他們與洛桑聯(lián)邦理工學(xué)院 (EPFL)、蘇黎世聯(lián)邦理工學(xué)院 (ETHZ) 以及南加州大學(xué)合作,首次成功拍攝了最先進(jìn)的計(jì)算機(jī)芯片微芯片的圖像,分辨率達(dá)到 4 納米,即 百萬(wàn)分之四毫米,創(chuàng)下了世界紀(jì)錄。
科學(xué)家們沒(méi)有使用透鏡(目前無(wú)法使用鏡頭拍攝此范圍內(nèi)的圖像),而是采用了一種稱(chēng)為 疊層成像 ptychography 的技術(shù),即通過(guò)計(jì)算機(jī)將許多單獨(dú)的圖像組合起來(lái)以創(chuàng)建一張高分辨率圖片。更短的曝光時(shí)間和優(yōu)化的算法是此次顯著提高由他們?cè)?2017 年創(chuàng)下的世界紀(jì)錄的關(guān)鍵因素。在實(shí)驗(yàn)中,研究人員使用了 PSI 瑞士光源 SLS 發(fā)出的 X 射線,并由瑞士XRnanotech提供的FZP聚焦。
深入研究微芯片:新型疊層成像技術(shù)可生成分辨率為百萬(wàn)分之四毫米的三維圖像。
原視頻鏈接:https://youtu.be/aKEhNgUdFvc
? 視頻:Paul Scherrer Institute PSI/Benjamin A. Senn、Markus Fischer 和 Tomas Aidukas
No.1
介于傳統(tǒng) X 射線斷層掃描和電子顯微鏡之間
微芯片是科技的奇跡。如今,先進(jìn)的集成電路中每平方毫米可以容納超過(guò) 1 億個(gè)晶體管,這一趨勢(shì)還在不斷增長(zhǎng)。高度自動(dòng)化的光學(xué)系統(tǒng)用于在潔凈室中將納米級(jí)電路跡線蝕刻到硅坯中。一層又一層地添加和移除,直到完成芯片(智能手機(jī)和電腦的大腦)可以被切割和安裝。制造過(guò)程繁瑣復(fù)雜,表征和繪制最終結(jié)構(gòu)也同樣困難。
掃描電子顯微鏡有幾納米的分辨率,因此非常適合對(duì)構(gòu)成電路的微型晶體管和金屬互連進(jìn)行成像,但它們只能產(chǎn)生表面的二維圖像。“電子在材料中傳播得不夠遠(yuǎn),” SLS 的物理學(xué)家 Mirko Holler 解釋道?!耙眠@種技術(shù)構(gòu)建三維圖像,必須逐層檢查芯片,在納米級(jí)別去除各個(gè)層——這是一個(gè)非常復(fù)雜和精細(xì)的過(guò)程,而且會(huì)破壞芯片?!?/p>
然而,使用 X 射線斷層掃描可以生成三維和無(wú)損圖像,因?yàn)?X 射線可以穿透材料更深,這個(gè)過(guò)程類(lèi)似于醫(yī)院的 CT 掃描。樣品被旋轉(zhuǎn)并從不同角度進(jìn)行 X 射線照射,輻射的吸收和散射方式各不相同,這取決于樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。探測(cè)器記錄離開(kāi)樣品的光,然后算法從中重建最終的 3D 圖像?!斑@里我們遇到了分辨率問(wèn)題,” Mirko Holler 解釋說(shuō),“目前可用的 X 射線鏡頭都無(wú)法以分辨如此微小結(jié)構(gòu)的方式聚焦這種輻射。”
No.2
Ptychography——虛擬鏡頭
解決方案是疊層成像。在這種技術(shù)中,不是將X射線束聚焦在納米尺度上,而是使樣品在納米尺度上移動(dòng)?!拔覀兊臉悠繁灰苿?dòng),使得光束遵循精確定義的網(wǎng)格——就像篩子一樣。在網(wǎng)格上的每個(gè)點(diǎn),都會(huì)記錄衍射圖案,” 物理學(xué)家解釋說(shuō)。各個(gè)網(wǎng)格點(diǎn)之間的距離小于光束的直徑,因此成像區(qū)域會(huì)重疊。這會(huì)產(chǎn)生足夠的信息,以便在算法的幫助下以高分辨率重建樣品圖像。重建過(guò)程就像使用虛擬鏡頭一樣。

Manuel Guizar-Sicairos、Tomas Aidukas 和 Mirko Holler(從左到右)站在 PSI 瑞士光源 SLS 的實(shí)驗(yàn)設(shè)備前??茖W(xué)家利用這里產(chǎn)生的 X 射線創(chuàng)下了新的世界紀(jì)錄。
? Paul Scherrer Institute PSI/Mahir Dzambegovic
“自 2010 年以來(lái),我們一直在不斷完善實(shí)驗(yàn)裝置和樣品定位的精度。2017 年,我們終于成功對(duì)計(jì)算機(jī)芯片進(jìn)行了空間成像,分辨率達(dá)到 15 納米——?jiǎng)?chuàng)下了紀(jì)錄,” Holler 回憶道。從那時(shí)起,盡管裝置和算法進(jìn)一步優(yōu)化,但我們儀器的分辨率一直保持不變?!拔覀儗⑵溲由斓搅艘坏絻杉{米,但這是我們能達(dá)到的極限。有些東西限制了我們,我們必須找出它是什么。”
No.3
尋找限制因素
這項(xiàng)精心的研究終于在在2021 年由瑞士國(guó)家科學(xué)基金會(huì)資助的一個(gè)項(xiàng)目開(kāi)始。除了參與了第一次記錄的 Mirko Holler 和 Manuel Guizar-Sicairos 之外,Tomas Aidukas 也加入了該小組。這位物理學(xué)家用他的編程經(jīng)驗(yàn)支持團(tuán)隊(duì)并開(kāi)發(fā)了新的算法,最終幫助他們?nèi)〉昧送黄啤?/p>
研究人員在減少曝光時(shí)間時(shí)找到了他們的第一個(gè)線索——衍射圖像突然變得更清晰了。這讓他們得出結(jié)論,照射樣品的 X 射線束并不穩(wěn)定,而是發(fā)生了微小的移動(dòng)——光束在擺動(dòng)。“這類(lèi)似于攝影,” Guizar-Sicairos 解釋說(shuō)?!爱?dāng)你在晚上拍照時(shí),你會(huì)因?yàn)楹诎刀x擇長(zhǎng)時(shí)間曝光。如果你不使用三腳架這樣做,你的動(dòng)作就會(huì)傳輸?shù)较鄼C(jī)上,照片就會(huì)模糊?!?另一方面,如果你選擇較短的曝光時(shí)間,這樣光線被捕捉的速度比我們移動(dòng)的速度快,那么圖像就會(huì)很清晰。 “但在那種情況下,圖像可能是全黑的或充滿噪點(diǎn),因?yàn)樵谶@么短的時(shí)間內(nèi)幾乎無(wú)法捕捉到任何光線?!?/p>
研究人員也面臨類(lèi)似的問(wèn)題。盡管現(xiàn)在的圖像已經(jīng)很清晰,但由于曝光時(shí)間太短,圖像所包含的信息太少,無(wú)法重建整個(gè)微芯片。
NO.4
更短的曝光時(shí)間和新的算法
為了解決這個(gè)問(wèn)題,研究人員升級(jí)了他們的裝置,換上了一個(gè)更快的探測(cè)器,這也是 PSI 開(kāi)發(fā)的。這樣他們就可以在每個(gè)網(wǎng)格點(diǎn)記錄許多圖像,每張圖像的曝光時(shí)間都很短?!皵?shù)據(jù)量非常大,” Aidukas 補(bǔ)充道。當(dāng)將各個(gè)圖像加在一起并疊加時(shí),就會(huì)產(chǎn)生與使用長(zhǎng)曝光時(shí)間獲得的模糊圖像相同的效果。

查看最先進(jìn)的計(jì)算機(jī)芯片的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。研究人員新開(kāi)發(fā)的疊層技術(shù)使研究人員能夠繪制出這一工程奇跡的三維結(jié)構(gòu)。
圖片顯示了組成微芯片的不同層。在頂部可以看到較粗的結(jié)構(gòu)。隨著層層向下移動(dòng),微芯片變得越來(lái)越復(fù)雜 - 使那里的連接可見(jiàn)需要幾納米的分辨率。
? Paul Scherrer Institute PSI/Tomas Aidukas
“你可以把 X 射線束看作是樣本上的一個(gè)點(diǎn)。我們現(xiàn)在在這個(gè)特定點(diǎn)拍攝大量單獨(dú)的照片,”Aidukas 解釋道。由于光束在擺動(dòng),每幅圖像都會(huì)略有變化?!?在一些圖片中,光束處于相同的位置,而在另一些圖片中,光束已經(jīng)移動(dòng)。我們可以利用這些變化來(lái)追蹤未知振動(dòng)引起的光束的實(shí)際位置。”接下來(lái)要做的是減少數(shù)據(jù)量?!拔覀兊乃惴〞?huì)比較各個(gè)圖像中光束的位置。如果位置相同,則將它們放在同一組中并加和。” 通過(guò)對(duì)低曝光圖像進(jìn)行分組,可以增加它們的信息內(nèi)容。因此,研究人員能夠使用大量短曝光圖片重建具有高光內(nèi)容的清晰圖像。
新的疊層掃描技術(shù)是一種基本方法,也可以在類(lèi)似的研究設(shè)施中使用。該方法不僅限于微芯片,還可以用于其他樣品,例如材料科學(xué)或生命科學(xué)。
文本:Paul Scherrer Institute PSI/Benjamin A. Senn
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Paul Scherrer研究所(PSI)負(fù)責(zé)開(kāi)發(fā)、建設(shè)和運(yùn)營(yíng)大型復(fù)雜研究設(shè)施,并將其提供給國(guó)內(nèi)和國(guó)際研究界使用。研究所的重點(diǎn)研究領(lǐng)域包括未來(lái)技術(shù)、能源與氣候、健康創(chuàng)新和自然基礎(chǔ)。PSI 致力于培養(yǎng)下一代,因此,約四分之一的員工是博士后、研究生或?qū)W徒。PSI 共有 2300 名員工,是瑞士最大的研究機(jī)構(gòu)。
瑞士XRnanotech
瑞士XRnanotech源自瑞士PSI,專(zhuān)注于研究納米結(jié)構(gòu),開(kāi)發(fā)和制造最具創(chuàng)新性的X射線光學(xué)器件。XRnanotech 制造的菲涅耳波帶片分辨率可低至<10nm,憑借獨(dú)特的 Ir-線倍增技術(shù),可以獲得精確到4nm的X射線束聚焦,這使得 XRnanotech 成為 X 射線透鏡世界紀(jì)錄保持者。
北京眾星聯(lián)恒科技有限公司作為瑞士XRnanotech公司在中國(guó)區(qū)的授權(quán)總代理商,為中國(guó)客戶提供所有產(chǎn)品的售前咨詢,銷(xiāo)售及售后服務(wù)。我司始終致力于為廣大科研用戶提供專(zhuān)業(yè)的EUV、X射線產(chǎn)品及解決方案。如果您有任何問(wèn)題,歡迎聯(lián)系我們進(jìn)行交流和探討。
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