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雙能與相襯成像的完美交響:全新inCiTe 2.0 X射線顯微鏡的奇妙之旅

2024-11-13 10:06:44 unistar

我們的合作伙伴加拿大KA Imaging宣布推出其inCiTe 2.0 3D X射線顯微CT系統(tǒng),在上一版本的基礎(chǔ)上,2.0版本集成了雙能成像和相襯成像功能。雙能成像功能可在一次掃描中實(shí)現(xiàn)多材料辨別,為航空航天、建筑和安全等行業(yè)提供創(chuàng)新的檢測解決方案。其先進(jìn)的相襯成像技術(shù)增強(qiáng)了低密度材料和細(xì)微變化的分辨率,為成像應(yīng)用提供了無與倫比的細(xì)節(jié)和清晰度。

inCiTe 2.0專為工業(yè)和研究應(yīng)用而設(shè)計,為無損檢測提供高分辨率成像,使其成為傳統(tǒng)掃描電子顯微鏡(SEM)的替代品。

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Features

特點(diǎn)

模塊化設(shè)計

 基于自由空間傳播的相襯成像

 多能量X射線成像

● X射線源電壓高達(dá)130 kV

● X射線焦點(diǎn)尺寸低至2 μm(最大110 kV)

 最大放大倍數(shù)下像素尺寸為0.8 μm

● 可容納直徑最大300 mm、高度最大200 mm的樣品


基于自由空間傳播的相襯成像

當(dāng)傳統(tǒng)X射線方法難以處理軟組織或聚合物等低密度材料時,相襯成像方法至關(guān)重要。而為了捕獲X射線的相位信息,往往需要添加專門的光學(xué)元件,以便將相移信息轉(zhuǎn)換為探測器上的強(qiáng)度信息,例如光柵干涉儀。

一個更直接的實(shí)驗(yàn)方式是通過X射線自由空間傳播來產(chǎn)生相位襯度,可以使X射線波前的相位變化(經(jīng)過樣品)在探測器上以強(qiáng)度波動的形式可見,如下圖。雖然不需要額外的光學(xué)器件,但為了達(dá)到好的成像效果,需要足夠大的橫向空間相干長度(即光源的光斑尺寸要足夠?。┮约?span style="color: rgb(50, 151, 248);box-sizing: border-box;">高分辨率探測器

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inCiTe 2.0系統(tǒng)使用KA Imaing 自有專利的非晶硒(a-Se)X射線相機(jī)BrillianSe?。

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BrillianSe? 是一種混合型 a-Se/CMOS 探測器,它使用具有高固有空間分辨率的非晶硒將 X 射線光子直接轉(zhuǎn)換為電荷。然后再通過低噪聲 CMOS 有源像素傳感器 (APS) 直接讀取電子信號。這樣的話,無需像間接閃爍體方法那樣先將 X 射線光子轉(zhuǎn)換為可見光,亦無需減薄轉(zhuǎn)換層以減小光學(xué)散射等效應(yīng)。

BrillianSe?提供了基于8μm像素的高分辨率,又保證了能量高至100keV時的高探測量子效率(DQE)。這些特點(diǎn)使該探測器既可高效地用于高能低通量吸收成像,又可在低密度材料成像時通過同軸相襯增強(qiáng)機(jī)制來提升靈敏度。


多能量X射線成像

利用世界上首款便攜式的單曝光雙能X射線探測器 Reveal? 35C,得益于KA Imaging 獨(dú)有的雙能專利技術(shù) SpectralDR?,inCiTe 2.0系統(tǒng)可以在一次X射線曝光后,同時提供 DR、高密度和低密度三幅圖像。

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Reveal? 35C 具有獨(dú)特的三層堆疊設(shè)計,便于集成,量子效率高。與其他雙能解決方案不同,Reveal?35C只需要一次 X 射線曝光,即使用與常規(guī)X 光相同的輻射劑量,就能消除運(yùn)動偽影,實(shí)現(xiàn)不同密度材料的區(qū)分。

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Parameters

技術(shù)規(guī)格

1

X射線源


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2

探測器


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3

系統(tǒng)



inCiTe? 2.0

三維尺寸

1800mm H x 1780mm L x 810mm W

重量

1380 kg

安裝要求

100-240 VAC, 50-60 Hz


Applications

應(yīng)用方向

● 無損檢測

 航空航天部件檢驗(yàn)

 電池分析

 建筑材料檢測

 學(xué)術(shù)研究

 安檢



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關(guān)于KA imaging

KA Imaging 源自加拿大滑鐵盧大學(xué),成立于2015年。作為一家專門開發(fā)x射線成像技術(shù)和系統(tǒng)的公司,KA Imaging以創(chuàng)新為導(dǎo)向,致力于利用其先進(jìn)的 X 射線技術(shù)為醫(yī)療、獸醫(yī)學(xué)無損檢測工業(yè)市場提供最佳解決方案。公司擁有獨(dú)家開發(fā)并自有專利的高空間高分辨率非晶硒(a-Se)X射線探測器BrillianSe?,并基于此推出了商業(yè)化X射線桌面相襯微米CT inCiTe? 2.0。

北京眾星聯(lián)恒科技有限公司作為 KA Imaging 在中國地區(qū)的授權(quán)代理,全面負(fù)責(zé) BrillianSe? 、Reveal?inCiTe? 在中國市場的產(chǎn)品售前咨詢,銷售以及售后業(yè)務(wù)。KA Imaging 將對眾星聯(lián)恒提供全面、深度的技術(shù)培訓(xùn)和支持,以便更好地服務(wù)于中國客戶。眾星聯(lián)恒及我們來自全球高科技領(lǐng)域的合作伙伴們將繼續(xù)為中國廣大科研用戶及工業(yè)用戶帶來更多創(chuàng)新技術(shù)及前沿資訊!






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 審核  凱文

 編輯   小喬


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