今年的 X 射線分析會議將有來自研究機(jī)構(gòu)、大學(xué)和工業(yè)公司的演講和海報投稿，除了經(jīng)驗(yàn)豐富的同行，眾多專業(yè)學(xué)生和年輕科學(xué)家也都受邀參加。本次會議將再次舉辦工業(yè)展覽，邀請了 X 射線分析設(shè)備和配件制造商以及相應(yīng)技術(shù)的用戶進(jìn)行展示。

本次，德國深耕X射線領(lǐng)域的廠商均報名參與本次會議，包括SPECTRO AnalyticalInstruments GmbH、Helmut Fischer GmbH、Anton Paar GmbH等。

眾星聯(lián)恒的合作伙伴德國greateyes GmbH公司也將深度參與此次活動，展示先進(jìn)的 X 射線成像相機(jī)以及其他針對現(xiàn)代自動化生產(chǎn)流程量身定制的高性能檢測解決方案。

讓我們共同期待國際領(lǐng)先制造能力之間碰撞交流帶來的成果！

• 工業(yè)條件下使用 X 射線分析的新方法

• 輕元素和新材料的定性和定量分析、TXRF、X 射線微分析的挑戰(zhàn)

• 樣品采集、樣品制備和樣品送入測量裝置

• 時間分辨 X 射線程序和方法

• 回收過程的工藝分析

• 分布式系統(tǒng)（微服務(wù)）和人工智能

• X 射線斷層掃描和 X 射線顯微鏡

• 工藝分析中的方法耦合（X 射線、UV/VIS、IR、拉曼、LIBS）

• 同步輻射的新工業(yè)應(yīng)用

• 工業(yè)和研究中的 X 射線衍射法和 X 射線光譜法

• 實(shí)時程序

• X射線分析中的統(tǒng)計(jì)方法——多元分析

• X射線熒光分析中的“暗矩陣”問題

• 軟X射線范圍內(nèi)測量數(shù)據(jù)分析的挑戰(zhàn)

• 測量數(shù)據(jù)分析中的人工智能應(yīng)用

• X 射線光學(xué)、微焦點(diǎn) X 射線源和探測器的新發(fā)展

• 創(chuàng)新型 X 射線相機(jī)

• 基于激光的軟 X 射線和硬 X 射線源

• 真空技術(shù)的新發(fā)展

• 用于過程控制和組件操作的新型軟件和硬件解決方案

  
  

德國greateyes GmbH是以德國柏林洪堡大學(xué)的技術(shù)為基礎(chǔ)，迅速發(fā)展成為國際知名的先進(jìn)探測器生產(chǎn)企業(yè)。如今，其科研與工業(yè)客戶群體己遍布多個國家。greateyes開發(fā)、 生產(chǎn)并銷售高性能科學(xué)級CCD相機(jī)。其作為精確探測器，廣泛應(yīng)用于成像與譜學(xué)應(yīng)用領(lǐng)域。同時greateyes公司也生產(chǎn)用于太陽能產(chǎn)業(yè)的電致熒光與光致熒光檢測系統(tǒng)。