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三維13.5nmEUV/SXR復制鏡

極紫外13.5nm高效率收集,超大立體角

  • 產(chǎn)地: 捷克
  • 型號: 定制
  • 品牌: RITE

? 關于RITE

Rigaku Corporation于 2008 年在捷克首都布拉格成立了Rigaku Innovative Technologies Europe s.r.o. (以下簡稱“RITE”),配有多個專業(yè)的X射線實驗室,作為日本理學在歐洲的 X 射線光學鏡片設計、開發(fā)和制造中心。

隨著EUV/XUV產(chǎn)業(yè)發(fā)展如火如荼,X射線各領域的研究也不斷深入,RITE專為這兩大類應用提供性能優(yōu)越的光學元件。憑借自身在X射線、極紫外光學領域多年的積累,除了承擔母公司理學在EUV/XUV、軟X射線、硬X射線等設備的研發(fā) (R&D) 任務以外,RITE秉承著開放合作的理念,也直接向全球的工業(yè)客戶、實驗室科研用戶提供標準或定制型EUV/X-RAY光學鏡片和高分辨間接X射線探測器等。

RITE實驗室EUV Replicated Optic
北京眾星聯(lián)恒科技有限公司北京眾星聯(lián)恒科技有限公司

捷克RITE基于其先進獨特的復制技術 (Replication technology),聚焦“超光滑Super Smooth”掠入射反射光學器件的研發(fā)設計,定制開發(fā)速度快,質(zhì)量高,工藝水平全球領先。擁有專利技術的工藝,能夠商業(yè)化生產(chǎn)直徑達300mm、段長達250mm,組合拼接后可達1000mm的光學器件。通過復制技術制作的光學元件具有低重量、高表面精度(低斜率誤差)和低表面粗糙度等特點。全反射鏡的另一個有趣的特性是使用各種金屬層作為涂層,最常用的材料有Ni、Au、Mo和Ru。


  • 超高表面精度和更低的表面粗糙度


平均粗糙度 Ra (nm)

均方根 RMS (nm)

10 μm × 10 μm

0.72

0.91

1 μm × 1 μm

0.27

0.34


Ru鍍層的微觀粗糙度:


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  • 面形誤差精度

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使用Taylor – Hobson輪廓儀測量,拋光前測得RMS (Δr) = 1.14 μm,拋光后測得RMS (Δr) = 0.109 μm 

  • 更高的反射率

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對于光學復制技術的擴展,RITE可以設計和生產(chǎn)多箔光學鏡片(MFO)。

多箔光學鏡(Multi-Foil Optics, MFO)非常適合軟X射線、EUV波段和大視場的應用,由兩組相互垂直的極薄反射鏡組成,光子通過掠入射角進行反射。可根據(jù)客戶要求快速定制開發(fā)多種形狀1D或2D的MFO(如龍蝦眼,Kirkptrick-Baez組等)。


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