產(chǎn)品特點

• 模塊化設(shè)計

• 基于自由空間傳播的相襯成像

• 多能量X射線成像

• X射線源電壓高達130 kV

• X射線焦點尺寸低至2 μm（最大110 kV）

• 最大放大倍數(shù)下像素尺寸為0.8 μm

• 可容納直徑最大300 mm、高度最大200 mm的樣品

雙能與相襯成像的完美交響基于自由空間傳播的相襯成像

inCiTe 2.0 3D X射線顯微CT是一款創(chuàng)新的顯微CT系統(tǒng)，集成了多能量成像和相襯成像功能。每一次X射線曝光，inCiTe 2.0都能捕獲雙能量X射線圖像，通過節(jié)約檢查所需的時間和降低復雜度，來提高對多成分材料檢測的效率。其先進的同軸相襯成像技術(shù)增強了低密度材料和細微變化的成像靈敏度，為成像應用提供了無與倫比的細節(jié)和清晰度。

基于自由空間傳播的相襯成像

當傳統(tǒng)X射線方法難以處理軟組織或聚合物等低密度材料時，相襯成像方法至關(guān)重要。而為了捕獲X射線的相位信息，往往需要添加專門的光學元件，以便將相移信息轉(zhuǎn)換為探測器上的強度信息，例如光柵干涉儀。一個更直接的實驗方式是通過X射線自由空間傳播來產(chǎn)生相位襯度，可以使X射線波前的相位變化（經(jīng)過樣品）在探測器上以強度波動的形式可見，如下圖。雖然不需要額外的光學器件，但為了達到好的成像效果，需要足夠大的橫向空間相干長度（即光源的光斑尺寸要足夠?。┮约案叻直媛侍綔y器。

inCiTe 2.0系統(tǒng)使用KA Imaing 自有專利的非晶硒（a-Se）X射線相機BrillianSe?。

BrillianSe? 是一種混合型 a-Se/CMOS 探測器，它使用具有高固有空間分辨率的 a-Se 光電導體將 X 射線光子直接轉(zhuǎn)換為電荷。然后再通過低噪聲 CMOS 有源像素傳感器 (APS) 直接讀取電子信號。這樣的話，無需像間接閃爍體方法那樣先將 X 射線光子轉(zhuǎn)換為可見光，亦無需減薄轉(zhuǎn)換層以減小光學散射等效應。BrillianSe?提供了基于8μm像素的高分辨率，又保證了能量高至100keV時的高探測量子效率（DQE）。這些特點使該探測器既可高效的用于高能低通量吸收成像，又可在低密度材料成像時通過同軸相襯增強機制來提升靈敏度。

多能量X射線成像

利用世界上首款便攜式的單曝光雙能X射線探測器 Reveal? 35C，得益于KA Imaging 獨有的雙能專利技術(shù) SpectralDR?，inCiTe 2.0系統(tǒng)可以在一次X射線曝光后，同時提供 DR、高密度和低密度三幅圖像。

Reveal? 35C 具有獨特的三層堆疊設(shè)計，便于集成，量子效率高。與其他雙能解決方案不同，Reveal?35C只需要一次 X 射線曝光，即使用與常規(guī)X 光相同的輻射劑量，就能消除運動偽影，實現(xiàn)不同密度材料的區(qū)分。 

規(guī)格參數(shù)

X射線源

探測器

系統(tǒng)

典型應用

• 無損檢測

• 增材制造

• 電子工業(yè)

• 農(nóng)學

• 地質(zhì)學

• 臨床醫(yī)學

• 標本射線照相

凱夫拉復合材料樣品檢測

樣品前視圖（左）和相襯成像顯示10 μm不均勻線結(jié)構(gòu)

三維重建圖

光纖檢測

光纖邊緣相襯增強。

甜椒種子的相襯增強圖像

非相襯測試結(jié)果（左）， 相襯測試結(jié)果 （右）

行李箱的雙能成像

DR圖像（左）、硬組織成像（中）、軟組織成像（右）

資料/文獻

INCITE-2.0BROCHURE-CT-產(chǎn)品手冊-眾星聯(lián)恒-中文（2024-10-27）.pdf