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X射線CMOS平板探測器及芯片

X射線CMOS平板探測器

用于無損檢測系統(tǒng)和科學(xué)成像應(yīng)用

產(chǎn)地：
型號：
品牌：

在線詢價

產(chǎn)品介紹：

采用晶圓級CMOS芯片（50μm-150μm）+FOP+閃爍體設(shè)計，我司可提供不同規(guī)格的定制/標準型x射線探測器。我們的CMOS探測器可用于科學(xué)，醫(yī)療，獸醫(yī)，安全和無損檢測工業(yè)應(yīng)用。

規(guī)格參數(shù)：

1. 高分辨率50μm CMOS傳感器

2824HR

1412HR

1206HR

0606HR

Active area (mm)

280 x 240

140 x 120

120 x 60

60 x 53.5

Image Resolution

5608 x 4800

2802 x 2400

2392 x 1200

1200 x 1072

Frame Rate (fps)

60 (USB)

DR (LFW/HFW)

74/79

Max Energy (kV)

225

Interface

CL, 10GigE, USB

CL, 5GigE, USB

GigE, USB

2. 高速率100μm CMOS傳感器

	3131HS	2824HS	2121HS	1615HS	1510HS
Active area (mm)	309.5×307.3	280 x 240	205 x 205	161x 150	153.6 x 103.1
Image Resolution	3095 x 3073	2803 x 2401	2048 x 2048	1608 x 1500	1536 x 1030
Frame Rate (fps)	62	90	66	83 (USB)	66
DR (LFW/HFW)	72/76	70/74	74/79	73/77	74/79
Max Energy (kV)	160	225	225	120	120
Dimensions (mm)	341 x 380 x 45	315 x 316.5x 53	245 x 280 x 50	212 x 202 x 35	229 x 103 x 9.6
Interface	10GigE, USB	10GigE, USB	5GigE, USB	GigE, USB	USB

典型應(yīng)用：

工業(yè)X射線無損檢測
質(zhì)子探測
電子檢測
（預(yù)）臨床應(yīng)用
錐束CT
X 線透視檢查
X射線光柵法相襯成像

資料/文獻：

北京眾星聯(lián)恒科技有限公司 CMOS平板探測器 datasheet 2020.7.16.pdf