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反射式EUV測試圖案

反射式EUV測試圖案

可提供圖案:線寬和縫寬80 nm以下。

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產(chǎn)品介紹:

· 反射型。

· 可提供圖案:線寬和縫寬80 nm以下。其他圖案還在研發(fā)中。

· 線上可以加工“缺口”,線之間可以加工“橋接”用于標(biāo)記。

北京眾星聯(lián)恒科技有限公司

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· 由于設(shè)計靈活,所以性能更高,成本也更低。

· 正在開發(fā)50 nm及以下的線縫和縫寬圖案。在有限條件下,可以提供圖案分辨率樣本。


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