產(chǎn)品簡介

• 單次測量能譜可覆蓋2到4kev

• 用于在線光束表征的背散射模式

• 研究材料樣品的X射線發(fā)射譜

• 能量分辨率為0.3eV

• 設備結構緊湊且可移動

TXS光譜儀可對HHG光束線，X射線自由電子激光和臺式X射線激光進行準確的光診斷。單次測量能譜可覆蓋2到4kev。

在具有高效率背向散射的von Hamos光路幾何中，對于光束的在線表征，可實現(xiàn)對X射線光譜的指紋識別。 透射光束保持> 90％的透射率，可使進一步的實驗不受透射光強的影響。

通過簡單地將背散射探針與材料樣品交換，hardLIGHT TXS即可用于X射線發(fā)射光譜（XES）。 中能X射線波段對許多材料的化學態(tài)都非常靈敏，如在電池研究中，2keV附近的硫光譜的精細結構可反映出重要的信息和線索。 

TXS光譜儀的定制設計需求是可討論的。

規(guī)格參數(shù)

典型應用

•  高次諧波光源的光子診斷，

• x射線自由電子激光，桌面x射線激光

• 原位X射線發(fā)射譜測量

資料/文獻

HP-Spectroscopy_hardLIGHT中能X射線光譜儀_datasheet_2021-5-19.pdf

公司介紹

德國HP Spectroscopy公司成立于2012年，致力于為全球科研及工業(yè)領域的客戶定制最佳解決方案，是科學儀器的全球供應商和領先開發(fā)商。產(chǎn)品線包括XAS系統(tǒng)，XUV/VUV/X-ray光譜儀，beamline產(chǎn)品等。主要團隊由x射線、光譜、光柵設計、等離子體物理、beamline等領域的專家組成。并與全球領先的研究機構的科學家維持緊密合作，關注前沿技術，保持產(chǎn)品的迭代與創(chuàng)新。