金剛石波帶片專(zhuān)為 XFEL 的高熱負(fù)載應(yīng)用而設(shè)計(jì),其允許焦點(diǎn)處的峰值功率密度為 4x1017 W/cm2。
參數(shù) | 典型值 | 能力極限 |
波帶片最外環(huán)寬度 [nm] | 100 | 50 |
波帶片直徑 [μm] | 100-250 | >2500 |
金,硅及金剛石三種材料的材料特性對(duì)比
材料 | 原子序數(shù) | 密度[g cm-3] | 熔點(diǎn)[?C] | 熱導(dǎo)率[Wm K) | 10 keV下π相移的厚度[μm] |
金, Au | 79 | 19.3 | 1064 | 310 | 2.07 |
硅, Si | 14 | 2.33 | 1410 | 150 | 12.67 |
金剛石, C | 6 | 3.52 | > 2000 | 2200 | 8.52 |
可以看到得益于金剛石良好的熱導(dǎo)率、低的X射線(xiàn)吸收和高熔點(diǎn),其非常適合如XFEL 的高熱負(fù)載應(yīng)用。
如下是在FEL下測(cè)試金波帶片的輻照損傷:
100nm最外環(huán)寬度波帶片金在LCLS,8KeV,1mJ,60HZ脈沖輻照測(cè)試前SEM圖像

100nm最外環(huán)寬度波帶片金在LCLS,8KeV,1mJ,60HZ脈沖輻照測(cè)試1000發(fā)后SEM圖像

100nm最外環(huán)寬度波帶片金在LCLS,8KeV,1mJ,60HZ脈沖輻照測(cè)試10000發(fā)后SEM圖像

規(guī)格參數(shù):
參數(shù) | 典型值 | 能力極限 |
波帶片最外環(huán)寬度 [nm] | 100 | 50 |
波帶片直徑 [μm] | 100-250 | >2500
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資料/文獻(xiàn):
C. David et al. Nanofocusing of hard X-ray free electron laser pulses using diamond based Fresnel zone plates Scientific Reports 1 (2011) p. 57