XRN顯微CT分辨率測(cè)試卡（0.1-50μm）
X射線分辨率測(cè)試卡是測(cè)量成像系統(tǒng)成像質(zhì)量的重要工具，我司可提供各種類型的測(cè)試卡以滿足您的各種需求。圖案類型包括線對(duì)、孔陣列和西門子星等。
- 產(chǎn)地： 瑞士
- 型號(hào)： uCT-XRn系列
- 品牌： XRnanotech
產(chǎn)品介紹：
空間分辨率是 CT 圖像質(zhì)量的一項(xiàng)重要性能指標(biāo)，其測(cè)試工作也是 CT 設(shè)備性能測(cè)試的重要內(nèi)容。線對(duì)卡法，是使用線對(duì)測(cè)試卡直接測(cè)試空間分辨率，由于操作方便、簡(jiǎn)捷而被廣泛用于 實(shí)際工業(yè) CT 空間分辨率的測(cè)試中。
新一代顯微CT分辨率測(cè)試卡：提升您的 X 射線成像體驗(yàn)！我們尖端的測(cè)試卡通過融合現(xiàn)代微納米制造技術(shù)（包括頂級(jí)電子束光刻技術(shù)）精心設(shè)計(jì)、制造而成。創(chuàng)新的測(cè)試圖案展示了從 50μm 到 200nm 的線條和空間，以及西門子星圖形。我們的標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品旨在超越預(yù)期。對(duì)于尋求量身定制解決方案的客戶，我們還提供完全可定制的選項(xiàng)。
主要參數(shù)：
高襯度材料: 4 /1.5/1 μm 金可選
超寬的測(cè)試范圍：0.2-50μm含26中線對(duì)
緊湊的設(shè)計(jì)：含或不含西門子星圖案
深度的SEM測(cè)試：保證出貨前每片測(cè)試，以保證測(cè)試精度
保護(hù)層：5μm厚聚合物，以增強(qiáng)機(jī)械強(qiáng)度和壽命
快遞交付：大量庫(kù)存
質(zhì)量保證：每年交付數(shù)百片
領(lǐng)先的襯噪比：
關(guān)于XRnanotech：
XRnanotech是瑞士領(lǐng)先的高質(zhì)量x射線光學(xué)元件制造商，從具有破紀(jì)錄分辨率的高縱橫比菲涅耳帶片到超穩(wěn)定的鉆石光學(xué)元件和用于廣泛x射線應(yīng)用的定制3d納米結(jié)構(gòu)。眾星聯(lián)恒聯(lián)合XRnanotech，為中國(guó)用戶提供所有售前咨詢，銷售及售后服務(wù)，歡迎聯(lián)系我們。
產(chǎn)品手冊(cè)：
顯微CT分辨率測(cè)試卡 MicroCT Resolution Test Target-產(chǎn)品手冊(cè)-眾星聯(lián)恒-2025-4-7.pdf
參考文獻(xiàn)：