產(chǎn)品介紹
空間分辨率是 CT 圖像質(zhì)量的兩項(xiàng)重要性能指標(biāo),其測(cè)試工作也是 CT 設(shè)備性能測(cè)試的重要內(nèi)容。線對(duì)卡法,是使用線對(duì)測(cè)試卡直接測(cè)試空間分辨率,由于操作方便、簡(jiǎn)捷而被廣泛用于
實(shí)際工業(yè) CT 空間分辨率的測(cè)試中。
眾星聯(lián)恒可提供各種類型的X射線分辨率測(cè)試卡/評(píng)估圖,它是X射線成像系統(tǒng)質(zhì)量控制和性能評(píng)估的理想工具。圖案類型包括線對(duì)、孔陣列和西門子星等。最小圖案尺寸低至10nm,面對(duì)高達(dá)~300kV及跟高的高分辨X射線應(yīng)用,我們可以提供厚達(dá)4μm的金吸收體,以滿足高能、高分辨的X射線成像系統(tǒng)的測(cè)試需求。
同時(shí)我們還可以提供:
如下是我們可以提供測(cè)試卡卡及模體的概述:
類型 | 圖案布局 | 圖案規(guī)格 | 吸收體類型及厚度 |
混合納米分辨率測(cè)卡 |  | 最小細(xì)節(jié)10nm
| 100nm Ir,或者更高的Au
|
3D西門子星分辨測(cè)試卡
|  | 最小細(xì)節(jié)小于200nm | 結(jié)構(gòu)高度200μm 尺寸Fhi 100μm
|
顯微CT分辨測(cè)試卡(點(diǎn)擊查看詳情) |  | 布局由嵌套的L形組成,線寬為: 50 –40 –30 –20 –15 –10 –9 –8 –7 -6 -5 –4 –3 -2 –1.5 -1 –0.9 -0.8 -0.7 –0.6 -0.5 –0.4 /0.3 /0.2 /0.1(微米) |
4(for 0.4)μm
4(for 0.3)μm 1.5(for 1.5)μm 1(for 0.1)μm
厚金
|
Yxlon標(biāo)準(zhǔn)微米分辨率測(cè)試卡(點(diǎn)擊查看詳情)) |  | 5.0, 4.0, 3.2, 2.5, 2.0, 1.6, 1.3, 1.0, 0.9, 0.8, 0.7, 0.6, 0.5, 0.45, 0.4, 0.35, 0.3 μm線對(duì) | 3 μm高金 |
方孔/狹縫圖案多功能分辨率測(cè)試卡(點(diǎn)擊查看詳情)) | 

| 外部尺寸: 1 x 1 cm2
包括 23 個(gè)方形開口(紅色方框A內(nèi),5x5 μm2 ~ 1000x1000 μm2) 以及左上角的兩個(gè)矩形狹縫結(jié)構(gòu)(紅色方框B內(nèi))
基底: 2.5 μm Ti (如有需要,可去除部分) | 厚度25 μm 金 |
NanoXSpot分辨率測(cè)試卡 (EN13543 -6 and -4/-7標(biāo)準(zhǔn),測(cè)試微納射線源焦點(diǎn)尺寸)(點(diǎn)擊查看詳情)) |  | 4象限區(qū)域,每個(gè)區(qū)域4 mm x 4 mm,含兩個(gè)改良的西門子星,孔陣列(最小孔徑5微米),7組有不同方向的線對(duì)(12 μm, 10 μm, 8 μm, 6 μm, 5 μm, 4 μm, and 3 μm) | 8 μm高金 |
微納CT分辨率測(cè)試模體
(點(diǎn)擊查看詳情) | 
| 球直徑: 0.5, 1.0, 2.5, 5.0mm
< 1 μm to > 10 μm 體素尺寸CT應(yīng)用
遵從 ASTM E1695-95 標(biāo)準(zhǔn)
| 紅寶石 |
納米CT體素校準(zhǔn)模體 (點(diǎn)擊查看詳情) | 
| 球直徑: 0.3 mm 球距離: 0.45 mm (認(rèn)證精度: 0.06 μm)
<1 μm 體素CT應(yīng)用 | 紅寶石 |
微納CT轉(zhuǎn)臺(tái)擺動(dòng)校正樣品架 (點(diǎn)擊查看詳情) | 
| 基準(zhǔn)尺寸 [μm]: 25 25 50 100
適用于 Dual-Energy CT or 4D CT | 紅寶石 |
應(yīng)用文章(點(diǎn)擊閱讀):