一個像素的電荷包移動到下一個像素需要一定的時間，所需時間即為行轉(zhuǎn)移時間。

像素的電荷包移入水平移位寄存器后，需要移出、放大和數(shù)字化處理，也需要一定的時間，所需時間稱為像素讀出時間，一般以讀出頻率給出。

Greateyes CCD行轉(zhuǎn)移時間最大100μs。讀出頻率有3級可選；500kHz、1MHz和2.8MHz。

轉(zhuǎn)移效率和損失率：

電荷包在像素之間轉(zhuǎn)移和水平寄存器的轉(zhuǎn)移過程中，可能會有電子損失，這是CCD的一個關(guān)鍵性能指標(biāo)：轉(zhuǎn)移效率或稱為損失率。

轉(zhuǎn)移效率定義為：電荷包轉(zhuǎn)移到下一個勢阱的電子數(shù)與轉(zhuǎn)移前的電子數(shù)之比。

假設(shè)有256行、1024列，采用3相耦合設(shè)計，如果轉(zhuǎn)移效率為99.9%，最上邊一行、最左邊一列的像素，需向下移動256×3次、水平移動1024次，共轉(zhuǎn)移256×3+1024=1792次，則總轉(zhuǎn)移效率為0.999¹⁷⁹²=0.167，損耗很大。如果轉(zhuǎn)移效率為6個9，同樣的轉(zhuǎn)移次數(shù)，總轉(zhuǎn)移效率0.999999¹⁷⁹²=99.89%。

轉(zhuǎn)移效率一般在0.999995以上。

單次轉(zhuǎn)移的轉(zhuǎn)移效率是隨機的，這就相當(dāng)于引入了噪聲。相機一般不會給出此性能指標(biāo)，而是將其視為一種噪聲，歸入讀出噪聲。

轉(zhuǎn)移效率小于1的原因：

1.       電子被俘獲

2.       時鐘頻率過高。電荷包轉(zhuǎn)移需要一定的時間，時鐘頻率過高，電荷轉(zhuǎn)移不完全。

提高轉(zhuǎn)移效率的方法：

1.       表面溝道CCD（SCCD）的電荷包轉(zhuǎn)移，是通過相鄰兩電極之間絕緣層和P-Si間的表面溝道（反型層）進(jìn)行的，會受到絕緣層和P-Si表面態(tài)的影響，電子可能會被俘獲。為了提高轉(zhuǎn)移效率，表面溝道CCD常采用偏置電荷技術(shù)，即在轉(zhuǎn)移之前，就先給每個勢阱輸入一定了的背景電荷，使表面態(tài)完全填滿，即零信號也有一定電荷 – 胖零（fat zero）技術(shù)。胖零技術(shù)會引入胖零噪聲。

2.       避開表面態(tài)，采用隱埋通道CCD（BCCD）體內(nèi)溝道的傳輸技術(shù)。這種埋溝結(jié)構(gòu)的優(yōu)點是使光生電子離開絕緣層表面，電子轉(zhuǎn)移通道在N-Si內(nèi)，與SiO₂絕緣層有一定的距離，減少了表面態(tài)俘獲電子的概率，同時還減少了暗電流，降低熱噪聲。BCCD唯一的缺點是存儲電子能力有所下降，比SCCD約小一個數(shù)量級，但轉(zhuǎn)移損失比SCCD小1~2個數(shù)量級。

BCCD最大優(yōu)點是低噪聲，主要是因為消除了信號電子與表面態(tài)的相互作用。低噪聲加上高的轉(zhuǎn)移效率使得BCCD成為低照度下的理想攝像器件。絕大部分科學(xué)級CCD都是BCCD結(jié)構(gòu)。

CCD一般不會直接給出轉(zhuǎn)移效率或轉(zhuǎn)移損失率指標(biāo)，而是將其歸入讀出噪聲，見下文。

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