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新聞動態(tài)

  • 眾星10月Highlights-走近EUV行業(yè)前沿，探索光刻未來

    •FIRST•【研討學(xué)習(xí)】荷蘭workshop走近EUV行業(yè)前沿，探索光刻未來?•??左右滑動，查看更多?眾星聯(lián)恒作為本次唯一參加2024 Source Workshop的中國公司，我們有幸與眾多行業(yè)專家見證了今年在阿姆斯特丹舉辦的這場EUV/SXR光源研究學(xué)術(shù)盛會。 歐美日韓的巨頭公司和頂級研究機(jī)構(gòu)，在兩天緊湊的日程內(nèi)，分享了眾多前沿信息。從等離子體電荷態(tài)演變的基礎(chǔ)研究，到超快動態(tài)等離子體診

    2024-11-01 unistar

  • 新品速覽-為X射線領(lǐng)域注入新活力

    X射線領(lǐng)域作為科學(xué)學(xué)界的前沿課題，其發(fā)展歷程持續(xù)地向領(lǐng)域內(nèi)的科研與從事人員提出新問題與新要求，同時更在不斷激發(fā)相關(guān)儀器制造行業(yè)改革創(chuàng)新的蓬勃生命力。我們在此榮幸地向大家介紹近期由三位行業(yè)頭部制造商推出的新品。期望能更好地、更適配地為各位老師、研究人員、從業(yè)人員提供研究助力。隨時歡迎感興趣的伙伴與我們就新品展開交流！科研級CCD相機(jī)“Expand Your Vision!’’ 只有致力于創(chuàng)新才能滿足

    2024-11-01 unistar

  • 新一代XSight透鏡耦合相機(jī)：250nm空間分辨引領(lǐng)科研突破之路

    “客戶需求驅(qū)動技術(shù)進(jìn)步！” 正是為了滿足客戶在高分辨率成像領(lǐng)域的迫切需求，我們的合作伙伴捷克RITE (Rigaku Innovative Technologies Europe s.r.o.) 再次突破X射線檢測技術(shù)的極限！正式推出了新一代Rigaku XSight X射線透鏡耦合相機(jī)，空間分辨率從400 nm提升至250 nm！XSight相機(jī)采用一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計，小巧緊湊，堅固耐用，易操作易集

    2024-11-01 unistar

  • 新篇章！瑞士領(lǐng)先的納米光學(xué)器件制造商XRnanotech收購Microworks公司

    Breaking News!本月，來自瑞士領(lǐng)先的納米技術(shù)光學(xué)器件制造商XRnanotech正式宣布完成對Microworks的收購！這一戰(zhàn)略性的舉措不僅標(biāo)志著兩家公司在各自領(lǐng)域內(nèi)的重大突破，更是將XRnanotech在納米技術(shù)領(lǐng)域的開創(chuàng)性進(jìn)展與Microworks在微米領(lǐng)域的尖端優(yōu)勢進(jìn)行了完美融合。從此，雙方將攜手并進(jìn)，共同突破科技的界限，為全球客戶帶來從微米到納米尺度的全方位解決方案。作為XRn

    2024-10-28 unistar

  • 所見即所得：混合光子計數(shù)探測器—您的調(diào)光神器

    調(diào)光系統(tǒng)結(jié)構(gòu)不緊湊，調(diào)光步驟復(fù)雜，調(diào)光存在安全隱患……你還在用傳統(tǒng)的平板探測器調(diào)光嗎？那你真的有必要知道這款由捷克Advacam公司提供的像素化的小型混合光子計數(shù)探測器MiniPIX，它具有單光子靈敏和能量閾值設(shè)定等特點，可以同時獲得光斑的位置、尺寸和強度分布信息，體積僅有U盤大小，讓你從此告別復(fù)雜的低靈敏的光路調(diào)節(jié)。圖1 MiniPIX探測器實物圖經(jīng)過多年的市場和實驗驗證，MiniPIX在實現(xiàn)光

    2024-10-18 unistar

  • 顯微知著，啟迪未來 - 2024全國電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會將于東莞盛大召開

    CLICK點擊藍(lán)字 關(guān)注我們在新質(zhì)生產(chǎn)力創(chuàng)新起主導(dǎo)作用的今天，顯微學(xué)人以振興電子顯微學(xué)事業(yè)發(fā)展為己任，瞄準(zhǔn)國家重大需求和國際前沿科學(xué)問題，不斷為我國卡脖子難題的攻克貢獻(xiàn)中國電子顯微學(xué)者不可或缺的重要力量。本屆電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會將展示顯微學(xué)相關(guān)理論、儀器制造、技術(shù)和實驗方法的最新進(jìn)展，意在促進(jìn)電鏡及其他顯微學(xué)儀器的運行、管理、維護(hù)、開放共享，實驗平臺的建設(shè)和發(fā)展的交流。眾星將在本次大會上帶來在EM

    2024-10-18 unistar

  • LPP光源紫外波段全譜測量方法

    IN由液態(tài)Sn靶在激光作用下產(chǎn)生極紫外（EUV）光的激光等離子體（LPP）光源，對于納米光刻至關(guān)重要，其遠(yuǎn)小于DUV光的波長，為實現(xiàn)集成電路的進(jìn)一步縮放提供了基礎(chǔ)。在此過程中，除了產(chǎn)生13.5nm附近（帶內(nèi)，in-band）的特征輻射以外，還會產(chǎn)生諸如VUV, DUV波段的帶外（OOB, out-of-band）輻射。大多數(shù)的研究聚焦在帶內(nèi)及其附近波段，然而OOB波段的相對（或絕對）強度也十分重要

    2024-10-18 unistar

  • 新的X射線世界紀(jì)錄：以4nm的分辨率觀察微芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)

    Paul Scherrer Institute (PSI) 的研究人員與洛桑聯(lián)邦理工學(xué)院、蘇黎世聯(lián)邦理工學(xué)院和南加州大學(xué)合作，利用 X 射線技術(shù)取得了重大突破。利用PSI 瑞士光源 SLS 發(fā)出的 X 射線，并采用由瑞士XRnanotech公司提供的最外環(huán)寬度為30nm，高度為400nm的FZP（菲涅爾波帶片）聚焦，以前所未有的高分辨率觀察了微芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)，實現(xiàn)了4nm的圖像分辨率，創(chuàng)下了新的世界

    2024-10-18 unistar

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