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新聞動態(tài)

  • EUV多層膜元件的反射率表征：從微觀到宏觀的極致優(yōu)化

    點(diǎn)擊藍(lán)字 關(guān)注我們WINTER多層膜反射率表征背景介紹EUV多層膜元件是EUV光學(xué)系統(tǒng)的核心光學(xué)元件，通過周期性膜層結(jié)構(gòu)設(shè)計可以在特定波長和入射角度條件下獲得盡可能高的反射率。如圖1是一片由德國optiX fab.制造的周期性Mo/Si多層膜反射鏡在5°入射角條件下的反射率測試結(jié)果，對中心13.5nm波長的實測反射率可以達(dá)到65%以上，非常接近于理論光學(xué)極限。圖1. Mo/Si多層膜反射鏡在PTB

    2025-04-07 unistar

  • The Devil is in the Details-多功能X射線光束測試卡的結(jié)構(gòu)及使用方法

    點(diǎn)擊藍(lán)字，關(guān)注我們引言在探索微觀世界的奧秘中，X射線以其獨(dú)特的穿透力成為了科學(xué)家手中不可或缺的“探針”。在之前的文章我們介紹了各種調(diào)制X射線強(qiáng)度、相位及方向的方式，如下：不同的X射線光學(xué)組件，由于采用的作用機(jī)理不同，所以適用于不同的應(yīng)用場景。在過去我們著重介紹了在衍射的X光聚焦元件i和基于折射原理的X光聚焦元件ii。i.詳見文章: <X射線多層膜在靜態(tài)和超快X射線衍射中的應(yīng)用>ii.詳

    2025-01-09 unistar

  • 晶體生長質(zhì)量快速測試?yán)鳎篨射線勞厄(Laue)實時晶體定向系統(tǒng)

    點(diǎn)擊藍(lán)字 關(guān)注我們SUMMERPart 1.引言1895年，德國物理學(xué)家威廉·倫琴發(fā)現(xiàn)了X射線，揭開了科學(xué)研究的新篇章。隨后在1912年，同來自德國的馬克斯·馮·勞厄（Max von Laue）使用X射線照射晶體，首次觀察到衍射圖樣，不僅驗證了X射線是電磁波，還揭示了晶體內(nèi)部的周期性結(jié)構(gòu)。這一發(fā)現(xiàn)為X射線晶體學(xué)的發(fā)展奠定了基礎(chǔ)，幫助科學(xué)家們打開了探索物質(zhì)微觀世界的大門，勞厄也因這一杰出的貢獻(xiàn)于19

    2025-01-09 unistar

  • 基于PIN二極管的EUV / X射線探測器

    點(diǎn)擊藍(lán)字 關(guān)注我們Rigaku xPIN計量探測器是一種基于PIN二極管的EUV / X射線探測器，具有緊湊靈活的設(shè)計，是實驗室光源強(qiáng)度監(jiān)測和光學(xué)對準(zhǔn)的理想工具。適用于從實驗室設(shè)備的校準(zhǔn)和測試到光源強(qiáng)度的長期精確監(jiān)測等各種應(yīng)用，是任何EUV/X射線實驗室不可缺少的理想專業(yè)工具。如圖1所示，該探測器可用作手持式監(jiān)視器或固定在光學(xué)臺上，探測器有自己的長壽命內(nèi)部電池，充電或供電操作可以通過標(biāo)準(zhǔn)USB電纜

    2025-01-09 unistar

  • 使用抗輻射聚合物制造的X射線折射光學(xué)元件（CRL）

    Author：Josephine Gutekunst1, Joachim Schulz12, Arndt Last21Microworks GmbH, Karlsruhe, Germany2 KIT / IMT, Karlsruhe, Germany一RefractionX射線折射 — 一項特殊的技術(shù)挑戰(zhàn)與可見光不同，X 射線光子的短波長或高能量會導(dǎo)致與原子核附近的電子相互作用，而不是與原子之間的

    2024-11-18 unistar

  • 傳感器制造中常見的半導(dǎo)體材料及應(yīng)用概覽-PART.1

    隨著科技的快速發(fā)展，半導(dǎo)體傳感器以其高靈敏度、低成本、小型化和集成化等優(yōu)點(diǎn)，正在各個領(lǐng)域中發(fā)揮著越來越重要的作用。本文將介紹傳感器制造中常見的四種半導(dǎo)體材料以及它們的相關(guān)應(yīng)用。此篇介紹第一種材料-硅。1硅傳感器的生產(chǎn)制造200mm的硅晶圓正在進(jìn)入退火爐硅是對人類最有用的元素之一，因為絕大多數(shù)半導(dǎo)體器件都是以硅為基礎(chǔ)制成的。目前，相較其他傳感器材料而言，硅它可以制成更大的晶圓，具有更好的價格優(yōu)勢同時

    2024-11-18 unistar

  • 會議預(yù)告-PRORA Berlin 2024 ? X射線分析及其工業(yè)應(yīng)用頂級會議

    從回收和環(huán)境分析到 X 射線成像的突破，PRORA 是德國工業(yè)技術(shù)創(chuàng)新的中心。今年的 X 射線分析會議將有來自研究機(jī)構(gòu)、大學(xué)和工業(yè)公司的演講和海報投稿，除了經(jīng)驗豐富的同行，眾多專業(yè)學(xué)生和年輕科學(xué)家也都受邀參加。本次會議將再次舉辦工業(yè)展覽，邀請了 X 射線分析設(shè)備和配件制造商以及相應(yīng)技術(shù)的用戶進(jìn)行展示。本次，德國深耕X射線領(lǐng)域的廠商均報名參與本次會議，包括SPECTRO AnalyticalInst

    2024-11-13 unistar

  • 雙能與相襯成像的完美交響：全新inCiTe 2.0 X射線顯微鏡的奇妙之旅

    我們的合作伙伴加拿大KA Imaging宣布推出其inCiTe 2.0 3D X射線顯微CT系統(tǒng)，在上一版本的基礎(chǔ)上，2.0版本集成了雙能成像和相襯成像功能。雙能成像功能可在一次掃描中實現(xiàn)多材料辨別，為航空航天、建筑和安全等行業(yè)提供創(chuàng)新的檢測解決方案。其先進(jìn)的相襯成像技術(shù)增強(qiáng)了低密度材料和細(xì)微變化的分辨率，為成像應(yīng)用提供了無與倫比的細(xì)節(jié)和清晰度。inCiTe 2.0專為工業(yè)和研究應(yīng)用而設(shè)計，為無損

    2024-11-13 unistar

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